德國FISCHER膜厚測(cè)試儀,是由金霖電子,負(fù)責(zé)中國華南區(qū)的銷售,原裝進(jìn)口,質(zhì)量可靠。德國FISCHER于1953年成立,有著非常豐富的經(jīng)驗(yàn),來制造品質(zhì)優(yōu)良可靠的儀器,起產(chǎn)品在業(yè)界廣受好評(píng), 是測(cè)量準(zhǔn)確的標(biāo)桿,廣泛用于電鍍、五金行業(yè)。能夠有效并精確的測(cè)量合金屬成分,只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鈾的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定。而且在不使用標(biāo)準(zhǔn)片做校正的情況下可達(dá)到一個(gè)相當(dāng)不錯(cuò)的測(cè)量結(jié)果。儀器操作也十分簡(jiǎn)單,不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空,操作員只需將測(cè)試點(diǎn)對(duì)準(zhǔn),不論大小的樣品可直接放進(jìn)測(cè)量室內(nèi),不用調(diào)距離,只需對(duì)準(zhǔn)位置,便能在正常的環(huán)境下測(cè)量從元素Z=13鋁到Z=92(鈾),固定、漿狀及液體的樣本也可以測(cè)量,即使是極小不規(guī)則形狀的測(cè)量積也可快速、免接觸的測(cè)量。
多鍍層,1~6層
一、應(yīng)用:
OU3100F型膜厚儀測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。OU3100N型膜厚儀測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。OU3100FN型膜厚儀采用磁感應(yīng)與電渦流兩種原理集一體式,可以測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層與測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
二、技術(shù)參數(shù)-OU3100型膜厚儀
型號(hào) | OU3100F | OU3100N | OU3100FN |
測(cè)定對(duì)象 | 磁性金屬上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬上絕緣層 | 磁性金屬上非磁性涂鍍層 及非磁性金屬上絕緣層 |
測(cè)量方法 | F 磁感應(yīng) | NF 渦流 | F 磁感應(yīng)/NF 渦流 |
測(cè)量范圍 | 0-1250um(更厚涂層請(qǐng)選用OU3500型) | ||
分辨率 | 1um | ||
準(zhǔn)確度 | 一點(diǎn)校準(zhǔn):±:(3%H+1um) 二點(diǎn)校準(zhǔn):±:(1%H+1um) | ||
最小曲面 | F: 凸1.5mm/凹25mm N: 凸3mm/凹50mm | ||
最小測(cè)量面積 | 7mm | ||
最薄基底 | 0.5mm | ||
自動(dòng)關(guān)機(jī) | 自動(dòng)關(guān)機(jī) | ||
使用環(huán)境 | 溫度:0-40℃ 濕度:10-90%RH | ||
電源 | 2節(jié)7號(hào)電池 | ||
電池電壓指示 | 低電壓提示 | ||
外形尺寸 | 115×70×30mm | ||
重量 | 80g(不含電池) |
資料來源:滄州歐譜 膜厚儀 http://www.mohouyi.com
美國博曼(BOWAMN)膜厚儀測(cè)量技術(shù)領(lǐng)先同行15年,在同測(cè)量領(lǐng)域獨(dú)領(lǐng)風(fēng)蚤,即將成為膜厚儀之王,精準(zhǔn)的數(shù)據(jù),高端先進(jìn)的技術(shù),嚴(yán)格的品質(zhì)要求,可靠、可信、快速的服務(wù),及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持,值得您的信賴。
美國博曼膜厚測(cè)試儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。高分辨硅-PIN-探測(cè)器,配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等.二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金.三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金.雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等.雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量,如端子,連接器,細(xì)小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛(wèi)浴,等行業(yè).也有杰出的表現(xiàn).可測(cè)量.單層.雙層,合金層等多種鍍層.如果您有什么問題或要求,請(qǐng)您隨時(shí)聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快!聯(lián)系人:舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760
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X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試,同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
電鍍測(cè)厚儀 鍍層檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹:
本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多最佳條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-210鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái),可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作,選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
Ux-210鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測(cè)試樣品的部位清楚明了,同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片,和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。
Ux-210鍍層測(cè)厚儀采用了華唯最新專利技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
電鍍測(cè)厚儀 鍍層檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀產(chǎn)品指標(biāo):
測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測(cè)量下限:0.003um
測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù):10層
測(cè)量用時(shí):30-120秒
探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:專用鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動(dòng)范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測(cè)試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū)自定義
樣品腔:70*20mm
整機(jī)重量:38kg
鍍層測(cè)厚方法:
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試,同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
電鍍測(cè)厚儀 鍍層檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=39.4邁, 1um=0.04mil