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TASI-676便攜式膜厚計(jì)/多功能膜厚儀/手持式膜厚計(jì)/臺(tái)灣特安斯/膜厚測(cè)試儀/TASI676

便攜式膜厚計(jì)/多功能膜厚儀/手持式膜厚計(jì)/臺(tái)灣特安斯/膜厚測(cè)試儀/TASI676

便攜式膜厚計(jì)/多功能膜厚儀/手持式膜厚計(jì)/臺(tái)灣特安斯/膜厚測(cè)試儀/TASI676產(chǎn)品特點(diǎn):   可測(cè)量導(dǎo)磁、非導(dǎo)磁材料。  資料儲(chǔ)存255筆。  可設(shè)定Hi/Lo 警報(bào)蜂鳴的讀值范圍。  選擇平均值、最大值、最小值及最大值-最小值。  常用厚度量測(cè)點(diǎn)可使用快速一點(diǎn)校正。  使用者可選擇μm/mils 可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 便攜式膜厚計(jì)/多功能膜厚儀/手持式膜厚計(jì)/臺(tái)灣特安斯/膜厚測(cè)試儀/TASI676說明

測(cè)量范圍
 0~40.0mils (0~1000μm)
 精確度
 ±(4 位)在0~7.8mils
 ±(10 位)在0~199μm
 ±(3%+4 位)在7.9mils~40mils
 ±(3%+10 位)在200μm~1000μm
 解析度
 0.1mils/1μm
 回應(yīng)時(shí)間
 1 秒
 顯示
 3½ 位數(shù)字液晶顯示,最大1999 讀值
 電池電壓不足顯示
 當(dāng)電池電壓低于操作電壓時(shí),"+ - "顯示
 自動(dòng)關(guān)機(jī)
 15 秒
 電池
 9V堿性電池一節(jié)
 精確度測(cè)試環(huán)境
 23℃±5℃,相對(duì)濕度<75%R.H.
 操作環(huán)境
 0℃~50℃,相對(duì)濕度<80%R.H.
 儲(chǔ)存環(huán)境
 -20℃~60℃,0~70%R.H.
 尺寸 
 148mm(高)x105mm(寬)x42mm(厚)
 重量 
 約260公克(含電池)
 附件
 說明書、電池、皮套

該公司產(chǎn)品分類: 儀器儀表 鹽分計(jì) 邏輯筆 電子負(fù)載 電源/直流電源 壓力表 相序表 溫度探頭 高壓探頭 功率計(jì) 數(shù)字示波器 噪聲分貝器 電磁波輻射儀 膜厚計(jì) 接地電阻計(jì) 氣體檢測(cè)儀 木材/紙張水份測(cè)試儀 PH酸堿度計(jì) 轉(zhuǎn)速表 溫濕度記錄器

膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片 膜厚測(cè)量校正片

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn).也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:

單鍍層:Ag/xx, 雙鍍層:Au/Ni/xx , 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.

我公司是一精密測(cè)試儀器代理商,為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!

多年來,我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!

歡迎咨詢洽談13424255969

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:

單鍍層:Ag/xx, 雙鍍層:Au/Ni/xx , 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.

我公司是一精密測(cè)試儀器代理商,為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!

 

多年來,我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!欲了解產(chǎn)品詳情,請(qǐng)與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn

xrf-2000H特價(jià)膜厚測(cè)試儀

 

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀
Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度.
可測(cè)元素范圍:
鈦(Ti) – 鈾(U)
可測(cè)量厚度范圍:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射線管:油冷,超微細(xì)對(duì)焦
高壓:0-50KV(程控)
準(zhǔn)直器:
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器
 
 
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
該公司產(chǎn)品分類: 精密儀器

BX610-MHCSY博曼膜厚測(cè)試儀

 產(chǎn)品名稱:博曼膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào):BX610-MHCSY元素范圍:鋁13到鈾92。  x射線激發(fā)能量:50W(50kv和1ma)鎢靶射線管  探測(cè)器:硅PIN檢測(cè)器250ev的分辨率或更高的分辨率  測(cè)量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素  過濾器/準(zhǔn)直器:4個(gè)初級(jí)濾波器,4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器(0.10.20.31.5mm)  聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)  數(shù)字脈沖處理:4096多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理,包括X射線時(shí)間修正和防X射線積累  電腦:英特爾酷睿i53470處理器(3.2ghz),8gbDDR3內(nèi)存,微軟Windows7專業(yè)64位等效  鏡頭:1/4"cmos-1280x720VGA分辨率  電源:150w、100~240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲  工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98%RH,無冷凝水  重量:32公斤  內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)140*310mm  外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)450*450mm  美國Bowman博曼膜厚測(cè)試儀典型應(yīng)用:  •電子、PCB:Au/Ni(p)/Cu/EpoxySn/Ni/Cu/EpoAg/Cu/EpoAu/Pd/Ni/Cu/Epo….  •連接器:Ag/Ni/Cu/BrassAu/Ni/MsNi/CuPdNi……  •晶片:AuAgNipCuTi…..  •汽車製造:Paint/Zn/FePaint/ZnPaint/AIZn/FeCr/Ni/Cu/ABSCr/Fe……  •航太航天:Paint/AI…….  •衛(wèi)星:Paint/FeAnodising……..  •衛(wèi)浴電鍍:Cr/Ni/Cu/ABSCr/Ni/Cu/BrassBathanalysis  •配件緊固件:Ni/FeZn-Ni/FeCr/Ni/Fe……
該公司產(chǎn)品分類: 顯微鏡系列 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 有毒氣體檢測(cè)儀 酒精測(cè)試儀 垃圾場氣體檢測(cè) 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 氫氣氣體檢測(cè)報(bào) 氧氣檢測(cè)儀 測(cè)氡儀 干燥箱系列 培養(yǎng)箱系列 振蕩器系列 攪拌器系列 水浴鍋系列 離心機(jī)系列 粉碎機(jī)系列

偏光片反射率測(cè)試,ITO薄膜反射率測(cè)試,TouchPannel反射率測(cè)試,導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試,Low-e玻璃反射率測(cè)試,汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試,涂層膜厚測(cè)試儀

 

 
儀器簡介
AS-300反射率測(cè)試儀器是一款高精度反射率測(cè)試儀器,可測(cè)量整體反射率值,反射率光譜。操作方便快捷,適用與偏光片反射率測(cè)試,ITO薄膜反射率測(cè)試,TouchPannel反射率測(cè)試,導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試,Low-e玻璃反射率測(cè)試,汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試 等。
儀器功能:
·光譜測(cè)量 在波長范圍內(nèi)進(jìn)行反射度能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.·數(shù)據(jù)輸出 可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
關(guān)鍵字:偏光片反射率測(cè)試,ITO薄膜反射率測(cè)試,TouchPannel反射率測(cè)試,導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試,Low-e玻璃反射率測(cè)試,汽車車燈鍍膜膜厚測(cè)試
 
 AS-300 反射率測(cè)試儀器
技術(shù)參數(shù)
波長精度:0.2nm
校正線性度:99.8%
測(cè)量誤差:1%以下
單次測(cè)量時(shí)間:最小100ms
功耗:200W
電源:210~245V,60Hz
信號(hào)接口:USB2.0
操作系統(tǒng):windows
波長范圍:200-1100 nm
數(shù)據(jù)傳輸速率:每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器(USB2.0 接口 ),18ms(USB1.1)
300ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器(串行口)
探測(cè)器:3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光柵:14 種光柵,波長從紫外到近紅外
積分時(shí)間:10um~65min
入射孔徑:寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖(無狹縫)
光纖連接:SMA905 接口,與0.22NA 的單股光纖相連
各類濾波片:長波通或帶通濾波片,安裝在光譜儀內(nèi)
電子控制:8 個(gè)數(shù)字GPIO 接口 電子快門控制(最短10um)
焦距:42 mm(輸入), 68 mm(輸出)
光學(xué)分辨率:0.3 nm FWHM(與光柵和狹縫寬度的選擇 有關(guān))
動(dòng)態(tài)范圍:2×108(系統(tǒng)),1300:1(單個(gè)掃描信號(hào))
主要特點(diǎn):
·設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·雙光束測(cè)光系統(tǒng),配合設(shè)計(jì)的電路測(cè)控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
極低的噪聲.
全自動(dòng)的控制系統(tǒng),的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高性和高穩(wěn)定性.
·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便.
·所有部件均選用進(jìn)口器件.了儀器性能的高性.
·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項(xiàng)專利技術(shù).提供了豐富的
獨(dú)具特色的分析功能.
該公司產(chǎn)品分類: 其實(shí)電子測(cè)試儀器 電子測(cè)試儀系統(tǒng) 儀器儀表

電鍍層電解膜厚測(cè)試儀供應(yīng)電鍍層電解膜厚測(cè)試儀,北京電鍍層電解膜厚測(cè)試儀

 
產(chǎn)品標(biāo)題 電鍍層電解膜厚測(cè)試儀 北京
型號(hào) KH.1-20IA(微電腦型號(hào)KH.1-HQT-IB)
圖片
簡介

測(cè)量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。   測(cè)量范圍:0.03μm~99.99μm 準(zhǔn)確度:±10%   復(fù)現(xiàn)精度:<5%   電位測(cè)量范圍:-100mv~+400mv 電位測(cè)量精度:±5%\\   本產(chǎn)品榮獲國家輕工部科技成果三等獎(jiǎng)。

 
基本型
多層鎳型
測(cè)量原理
利用與鍍層、基材相對(duì)應(yīng)的電解液、在一定的電流所溶解的硬度和時(shí)間成正比,來測(cè)定膜厚的一種測(cè)量方(卻運(yùn)用電化學(xué)中的庫侖法來測(cè)定膜厚)
測(cè)量厚度的原理和基本型相同。
測(cè)量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來反映各層鎳的厚度及層間電位差。
可測(cè)定材料
可被電解液所電解金屬鍍層,如:鋼、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等。
基本型儀器可測(cè)量的各種鍍種的厚度及多層鎳的層間電位差。
測(cè)量范圍
0.03微米---99.99微米
厚度:0.03微米---99.99微米
電位差:-100mV--+400 mV
準(zhǔn)確度
±10%
厚度:±10% 電位差:±5%
復(fù)現(xiàn)精度
<5%
<5%
測(cè)量質(zhì)表示
LED4位顯示,其中兩位為小數(shù)。打印輸出四位數(shù)字,其中兩位為小數(shù)
除了擁有LED4位顯示和4位打印輸出以處還有繪圖儀輸出電位差曲線,繪圖儀輸出的圖形是X軸代表電位(mv),Y軸代表厚度(微米 um)的座標(biāo)軸上顯示的比例曲線。
測(cè)量面積
A橡皮墊圈  直徑2.5mm   B皮墊圈  直徑1.7 mm
A橡皮墊圈  直徑2.5mm   B皮墊圈  直徑1.7 mm
性能特點(diǎn)
操作簡便,復(fù)現(xiàn)性好,可測(cè)量單層,復(fù)合型電鍍,具有內(nèi)置徵電腦,直觀顯示各層厚度。
操作簡便,復(fù)現(xiàn)性好,可測(cè)量單層,復(fù)合型電鍍,具有內(nèi)置徵電腦,通過徵電腦處理,直觀顯示各層厚度及電位差。
設(shè)備配備
主機(jī)、電解池、有機(jī)測(cè)量架、橡皮墊圈、標(biāo)準(zhǔn)樣板、打印紙及支架、試劑瓶等。
主機(jī)、電解池、有機(jī)測(cè)量架、橡皮墊圈、標(biāo)準(zhǔn)樣板、打印紙及支架、試劑瓶、繪圖儀等。

 

膜厚測(cè)試儀

CMI900 無損電鍍 膜厚測(cè)試儀,鍍層測(cè)厚儀 專業(yè)測(cè)量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測(cè)量,快速 無損,業(yè)內(nèi)廣受好評(píng),客戶應(yīng)

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測(cè)量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗(yàn)豐富,商業(yè)合作個(gè)方式靈活。

金屬鍍層厚度測(cè)量, 例如Zn;Cr;  Cu;  Ag;  Au;Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測(cè)量,  例如:  SnPb;  ZnNi;  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測(cè)量,  例如:  AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測(cè)量,  例如:Au/Ni在Cu  上;  Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測(cè)量(其中一層是合金層),  例如:  SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 三鍍層,  例如:  Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu  ~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常見應(yīng)用

儀器介紹CMI 900  系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域

,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的自動(dòng)化控制, PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù):CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè)A  CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um  (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測(cè)量儀

該公司產(chǎn)品分類: 光譜儀 膜厚測(cè)試儀

TT260時(shí)代手持式涂鍍層膜厚測(cè)試儀TT260深圳現(xiàn)貨

TT260涂層測(cè)厚儀主要技術(shù)指標(biāo) 

使用環(huán)境溫度 0~40℃
電源 鎳氫電池5×1.2V 600mAH
外型尺寸 270×86×47mm
重量 530g
測(cè)量范圍 0—1250μm
可使用6種測(cè)頭 (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進(jìn)行測(cè)量
三種校準(zhǔn)方法 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn)
顯示分辨率 0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm)1μm (測(cè)量范圍大于100μm)
設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量 存儲(chǔ)495個(gè)數(shù)據(jù)
有兩種工作方式 直接方式和成組方式
有兩種測(cè)量方式 連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量
有兩種關(guān)機(jī)方式 手動(dòng)關(guān)機(jī)和自動(dòng)關(guān)機(jī)
可設(shè)置限界 對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警,并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析
有刪除功能 對(duì)粗大誤差及錯(cuò)誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理
打印功能 可打印測(cè)量測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖
其它功能 有音樂鈴聲隨時(shí)對(duì)操作進(jìn)行提示 有電源欠壓指示功能 可以邊充電邊工作 錯(cuò)誤提示功能 與計(jì)算機(jī)通訊(通訊軟件運(yùn)行環(huán)境為Window操作系統(tǒng)),用計(jì)算機(jī)控制測(cè)厚儀工作。
基本配置 TT260主機(jī)   1臺(tái), TT260打印機(jī)  1臺(tái) ,F(xiàn)1或N1測(cè)頭   1支,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片   1套,充電器    1個(gè)

該公司產(chǎn)品分類: 無損檢測(cè)設(shè)備 環(huán)境試驗(yàn)機(jī)系列 光學(xué)顯微鏡系列 硬度計(jì)系列 測(cè)高儀系列 投影儀系列 影像測(cè)量儀系列 日本三豐精密量儀

CMI900膜厚測(cè)試儀|膜厚測(cè)試儀生產(chǎn)

膜厚測(cè)試儀|膜厚測(cè)試儀生產(chǎn),CMI900 膜厚測(cè)試儀 膜厚儀 鍍層測(cè)厚儀 X-RAY膜厚儀 XRF鍍層測(cè)厚儀膜厚測(cè)試儀廠家|膜厚測(cè)試儀報(bào)價(jià)|沉鎳金鍍層測(cè)厚儀我公司是牛津儀器技術(shù)力量最為強(qiáng)大的大陸代理商,專業(yè)銷售:鍍層測(cè)量儀,電鍍測(cè)厚儀,膜厚儀,金屬測(cè)厚儀,X射線測(cè)厚儀,無損測(cè)厚儀,鍍膜測(cè)厚儀,金鎳測(cè)厚儀,銅厚測(cè)量儀,X射線元素分析儀,線路板銅厚測(cè)量儀,合金分析儀,產(chǎn)品RoHS檢測(cè)儀;在蘇州設(shè)有分公司。公司有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的銷售、服務(wù)工程師,是牛津儀器在大陸委托的服務(wù)商,以來得到牛津廠家及廣大客戶的好評(píng)。

公司產(chǎn)品及服務(wù)項(xiàng)目:

1.復(fù)合鍍層測(cè)厚儀CMI90O、X-Strata980

  主要用于:電鍍、五金、連接器、PCB、SMT、半導(dǎo)體及、汽車零部件的多層金屬鍍層的非破壞性測(cè)厚。

2.線路板PCB專用銅厚測(cè)量儀CMI700、CMI500、CM95

  主要用于:PCB、SMT及PCB電鍍加工廠對(duì)面銅、孔銅、綠油的非破壞性測(cè)厚。

3.產(chǎn)品RoHS檢測(cè)儀:X-MET5000、X-Strata980

主要用于:對(duì)出口歐盟產(chǎn)品RoHS指令中有害物物質(zhì)檢測(cè)。

4.多元合金分析儀X-MET5000

   主要用于:多元合金中元素定量分析

 

 聯(lián)系人:張軍濤

關(guān)鍵詞:深圳測(cè)厚儀、東莞測(cè)厚儀、惠州測(cè)厚儀、珠海測(cè)厚儀、廣州測(cè)厚儀、中山測(cè)厚儀、汕頭測(cè)厚儀、梅州測(cè)厚儀、佛山測(cè)厚儀、德國測(cè)厚儀、美國測(cè)厚儀、英國測(cè)厚儀、日本測(cè)厚儀膜厚測(cè)試儀|膜厚測(cè)試儀生產(chǎn),膜厚測(cè)試儀廠家|膜厚測(cè)試儀報(bào)價(jià)|沉鎳金鍍層測(cè)厚儀CMI900 膜厚測(cè)試儀 膜厚儀 鍍層測(cè)厚儀 X-RAY膜厚儀 XRF鍍層測(cè)厚儀

 

該公司產(chǎn)品分類: x-strata920 cmi900 cmi900/strata920 X-STRATA920 CMI900 X-STRATA920 CMI900 X-SARATA920 CMI900 鍍層測(cè)厚儀 膜厚測(cè)試儀 膜厚儀

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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