電位分析儀GTW-ZT-Y 技術參數: 粒度范圍:0.8納米-6.5微米 Zeta電位測量:+/-125mv 電泳遷移:+/-0.4μs/volt/cm 重復性:誤差小于1%(標準顆粒) 測量原理:動態光背散射技術及米氏理論 專利技術:HDF,CRM,FFT,“Y”型光纖光路設計,“非球形”顆粒校正選項,微電場設計技術 檢測角度:180º 濃度范圍:0.1ppm–40wt% 分析時間:30-120秒 光源:3mW780nm半導體光纖 http://www.hbjmglj.com 樣品體積:0.2-5ml 操作軟件:兼容Windows98,2000,NT,XP,Vista等 國際標準:ISO13321 環境溫度:10ºCto35ºC 相對濕度:小于90% 主要功能: http://www.btjmljc.com 氯離子、維生素C、碘值、過氧化值、總硬度、游離二氧化硫、葡萄糖的測定 凱氏定氮和還原糖的滴定 鈣鎂離子和鉀離子的測定 各種酸含量的測定 http://www.taoshanjx.com 具有終點和等當點滴定功能,動態和等量的加液方式 同步顯示滴定曲線 滴定管的分辨率:1/10000 電位分辨率:0.1mV 儲存100個樣品結果人參水分檢測儀 紙板耐破強度試驗機 日本理研 萬勝鋰電池 碳硅分析儀 數控銑床廠家 溫度滴定儀 紫紅外火焰探測器 氮氫空一體機 旋渦混合器 PE膜收縮機 組織搗碎勻漿機 唐納森濾芯 插銑床 滾涂機 旋渦混合器 垂直流凈化工作臺 超高純氦氣 裝載機電子秤 SMC氣缸 電火花檢漏儀 飲料灌裝生產線 函數信號發生器 博力飛 配頁機 FESTO氣缸 裝配熱電偶
藥(械)準字:食藥監械(進)字2014第2213261號
直觀的軟件操作界面和簡易的正常值分析功能使操作者能夠立刻學會使用查特™Chartr™ EP。
特有的遠程控制器使操作輕松。
作為最先將背向光散射技術(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術進行了完美結合,突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,實現在同一臺粒度分析儀中,既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號,又可以有效地提高了測量濃度上限,最高可達40%wt;硬件PALS技術(與傳統基于頻移技術的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應用,徹底解決了長期以來無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統方法沒有足夠的分辨率進行測量)的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能最強大的粒度與Zeta電位分析儀。
NanoBrook產品系列
項目 | 173 | 173Plus | Omni | ZetaPALS | |
功 能 | 粒度測量功能 | ● | ● | ● | ○ |
分子量測量功能 | ● | ● | ● | ○ | |
Zeta電位測量功能 | ○ | ○ | ● | ● | |
技 術 參 數 | 散射角 | 15°與173° | 15°、90°與173° | ○ | |
粒度范圍 | 0.3nm-10μm | ○ | |||
分子量測定范圍 | 342~2×107Dalton | ○ | |||
相關器 | 4×522個物理通道,4×1011個線性通道 | ○ | |||
Zeta電位適用粒度范圍 | ○ | 1nm~100μm | |||
Zeta電位范圍 | ○ | -500mV~500mV | |||
電導率范圍 | ○ | 0-30S/m | |||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11~10-7m2/V.s | |||
電極 | ○ | 開放式永久型電極 | |||
系 統 參 數 | 溫控范圍與精度 | -5~110℃,±0.1℃ | |||
激光源 | 35mW光泵半導體激光器 | ||||
檢測器 | PMT或APD | ||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | ||||
大小及重量 | 233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg | ||||
選 件 | BI-ZTU自動滴定儀 | 可對PH值、電導率和添加劑濃度作圖 | |||
BI-870介電常數儀 | 直接測量溶劑的介電常數值 | ||||
BI-SV10粘度計 | 用于測量溶劑及溶液的粘度 |
●代表“有” ○代表“無”
典型應用
☆ 蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
☆ 脂質體、外切酶體及其他生物膠體
☆ 多糖、藥物制備
☆ 納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
☆ 油包水、水包油體系
☆ 涂料、顏料、油漆、油墨、調色劑
☆ 食品、化妝品配方
☆ 陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
ZetaPALS測定電泳遷移率 (單位 10 -8m2 /V·s)
樣品 | PALS 結果 | 文獻值 | 備注 |
NIST 1980 | 2.51 ± 0.11 | 2.53 ± 0.12 | 標準樣品電泳遷移率 |
Blood Cells | -1.081 ± 0.015 | -1.08 ± 0.02 | 分散于生理鹽水 |
Fe 2O3 | 0.013 ± 0.0015 | N.A. | 分散于十二烷 |
TiO2 | 0.255 ± 0.010 | N.A. | 分散于甲苯(非脫水) |
TiO2 | 0.155 ± 0.011 | N.A. | 分散于甲苯(脫水) |
TiO2 | -0.503 ± 0.0015 | N.A. | 分散于乙醇 |
Casein | -0.025 ± 0.002 | N.A. | 分散于PEG(粘性) |
SiO2 | -0.73 ± 0.04 | N.A. | 分散于 2.0 M KCl(高鹽濃度) |
應用案例
不同粒徑對Zeta電位等電點的影響 不同官能團配比對等電點的影響 Zeta電位值與細胞吸收度的關系
通過調整顆粒的粒徑或正負電荷官能團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細胞吸收度有著重大影響。(數據摘自JACS)
技術參數
適用粒度范圍:粒度:0.3nm~10μm(與折射率,濃度,散射角有關);Zeta電位:1nm~100μm
樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關)
典型精度:粒度:1%;Zeta電位:3%
樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品
樣品體積:粒度:1~3ml,50μL微量樣品池,10μL微量樣品池(最新);Zeta電位:0.18~1.5 ml
分子量測定范圍:342~2×107Dalton
Zeta電位范圍:-500mV~500mV
電導率范圍:0~30S/m
電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s
電場強度:0 ~ 60 kV/m
電極:永久性開放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)
溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。
pH測量范圍:1-14
激光源:35mW光泵半導體激光器(可選5mW He-Ne激光器)
檢測器:高靈敏雪崩型二極管(APD)
相關器:4×522個物理通道,4×1011個線性通道,采用動態采樣時間及動態延遲時間分配
自動趨勢分析:對時間、溫度及其他參數
散射角:15°、90°與173°
室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝
大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg
電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
計算機(選件):商用計算機,包括WindowTM軟件
自動滴定儀(選件):獨立四泵驅動,可對pH值、電導率和添加劑濃度作圖
30多年來,Microtrac 公司一直于激光散射技術在顆粒粒度分布中的應用。作為行業的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生的能譜概念,利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術,結合動態光散射理論和的數學處理模型,取代傳統的光子相關光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術的發展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現實,成為眾多行業納米分析的參考儀器。 應用領域: 有機聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無機物,結晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質,甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
主要特點
﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術,比較傳統的多譜勒頻 移分析方法,獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數量級,提高分析結果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method,能精細分析多譜勒頻移產生的能 譜,確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,避免了多重散射現象,高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統,精確聚焦藍寶石測量窗口,消除雜散光對檢測器的負面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method,迅速處理檢 測系統獲得的光譜,縮短分析時間 ﹡ 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素,內置常用分析物質光學數據庫,提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標準-納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準
技術參數
粒度范圍:0.8納米- 6.5微米 Zeta 電位測量:+/- 5mv 電泳遷移:+/- 0.4 μs/volt/cm 重復性:誤差小于1%(標準顆粒) 測量原理:動態光背散射技術及米氏理論 專利技術:HDF,CRM,FFT,“Y”型光纖光路設計,“非球形”顆粒校正選項,微電場設計技術 檢測角度:180º 濃度范圍:0.1ppm – 40wt% 分析時間:30-120 秒 光源:3mW 780nm 半導體光纖 樣品體積:0.2ml 操作軟件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標準:ISO 13321 環境溫度:10ºC to 35ºC 相對濕度:小于90%
多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點:
1、測定多孔固體材料的兩種不同性質的參數:孔隙率和固體表面zeta電位,包括孔壁電荷
2、探頭式測量孔隙率,快速、安全、無污染,對樣品無損傷
3、探頭式測定zeta電位
應用領域:只要是孔徑在儀器測試范圍之內、能被某種液體浸潤的材料均可進行分析。
典型的應用領域有:陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質等等
安東帕中國(Quantachrome)是的當代顆粒技術開創者。四十年多來,康塔(Quantachrome)的科學家革新了測量技術并設計了相應的儀器,使得粉體及多孔物質的測量更加精確、精密,更加。這包括:比表面積分析儀,比表面積和孔徑分析儀,薄膜孔徑和孔隙度分析儀,超聲粒度及ZETA電位分析儀,圖像粒度儀,大孔孔徑分析壓汞儀,水吸附分析儀,高壓吸附儀,真密度計,振實密度儀等。安東帕中國公司不僅通過了ISO9001 及歐洲CE 認證,也取得了美國FDA IQ/OQ認證。
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ZetaFinder型電位分析儀 | ||||||||||||||||||||
產地:美國 產品特點: 1)采用專利的電動聲波振蕩技術,該儀器可完成非凡的電動測量結果,從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限。 2)提供數據快速準確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋,Zeta電位將徹底改變); 3)該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作; 4)堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨立的容器中; 5)自動滴定法用于簡單的IEP測量; 6)樣品可被強烈攪拌或混合,因此不會產生沉淀物; 7)高頻電場采用非常短的脈沖,因此樣品測量時不會產生錯誤; 8)可實時測量實際樣品; 9)不使用光學技術,因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品; 10)可測量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒; 11)該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量,不須特別的樣品池,樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取,可直接實時獲得理想的數據 技術參數: 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準備,從而消除了操作失誤和數據的不確定性,同時節省了時間; 2)物有所值的諧振硬件設計; 3)寬粒徑測量范圍:從1nm到30um; 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位(IEP)測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態測定; 5)由于機載樣品混合和/或測量時的泵送能力,沒有粒子沉降的不利影響; 6)Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨立的容器中,測量精確、重復性好,方便使用; 7)可測量高粘度的樣品,樣品濃度可從0.1%到60%; 8)可在0-14的pH值范圍內進行測定; 9)可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標; 10)最小樣品容量10ml,沒有最大容量限制; 11)微軟支持的軟件界面,帶強大的數據管理功能; 12)12個月的保質期和免費的技術咨詢
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