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Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術在顆粒粒度分布中的應用。作為行業的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，結合動態光散射理論和的數學處理模型，取代傳統的光子相關光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術的發展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現實，成為眾多行業納米分析的參考儀器。  應用領域：  有機聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機物，結晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術，比較傳統的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數量級，提高分析結果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細分析多譜勒頻移產生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，避免了多重散射現象，高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統，精確聚焦藍寶石測量窗口，消除雜散光對檢測器的負面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測系統獲得的光譜，縮短分析時間 ﹡ 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內置常用分析物質光學數據庫，提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標準－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準

技術參數

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復性：誤差小于1%（標準顆粒） 測量原理：動態光背散射技術及米氏理論 專利技術：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纖光路設計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設計技術 檢測角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標準：ISO 13321 環境溫度：10ºC to 35ºC 相對濕度：小于90%

 

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測量，操作方便、快捷，并可升級帶Zeta電位測量功能。ZetaPlus的升級產品為ZetaPALS。對于高濃度懸浮體系粒度的測量，BI-FOQELS為選擇。此外，對于需要研究體系聚集過程，或測量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點   1.高功率的激光器了測量結果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設計,是具有革新性的專利技術。3.基本避免了電滲運動和交叉污染的影響，從而提高測量的精度和速度。4.采用世界公認功能的相關器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級前景，延長了儀器的使用壽命。  技術參數     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項)4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號:M294094

酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號:M294094  
TW61M/PH/ORP-2002型酸堿、氧化-還原電位分析儀以操作簡便，運行穩定著稱，該品牌的酸堿、氧化-電位變送器具 有以下功能優勢： 穩定性好、低干擾 采用LCD顯示視界 采用電壓穩定、抗干擾性強的線性電源 主要操作由一個鍵完成，操作非常簡單 可選擇4-20mA信號隔離輸出（通訊接口） 適用高輸入阻抗的電極 特別適用于廢水處理系統、純水系統等過程 電極護套管：可耐強酸、強堿、1-4米可以任意選擇尺寸 安裝支架：全不銹鋼設計、美觀、機械強度好 電極信號線：日本進口同芯屏蔽電纜、5-200米可選 標準成套配備： 1、PH/ORP變送器 2、PH/ORP電極 3、電極護套管（1米，可選擇加長） 4、防水接線盒（1P65） 5、安裝支架（全不銹鋼設計） 6、電極信號線（20米，可選擇加長） 主要技術參數： 測 量 范 圍 :0－14PH、－1000-1000mV 精 確 度: 0.01PH、1mV 操 作 溫 度: 0-60℃ 顯 示: 液晶顯示屏 信 號 輸 出: DC4-20mA Max. Load 1k 控 制 : ON/OFF 接 點 電 流 :220VAC Max. 3A 設 定 點: 2 電 源:220VAC 50Hz 開 孔 尺 寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 凈 重: 0.2Kg 電 極 選 擇 S-400-RT330-A10FF　PH污水及管路安裝電極 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安裝電極S400-02-Y　 PH/ORP經濟型電極   產品圖片

NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術特點：

  • 可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
  • 可測定固體zeta電位
  • 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%）
  • 可精確測量稀釋或濃縮的懸浮液
  • 用戶友好的軟件
  • 多種樣品池選擇
  • 可選擇一次性樣品池
  • 結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征
  • 可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值

 

產品應用：

 

半導體

研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。

 

醫藥和食品行業

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

 

陶瓷和顏料工業

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領域

乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。

該公司產品分類： 反應釜、反應器 密度儀、密度計 壓汞儀 物理/化學吸附儀 比表面儀、比表面積、比表面及孔結構分析儀 孔徑/隙度分析儀 蒸氣吸附儀 粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀 沉降粒度儀/顆粒沉降儀 顆粒計數器 Zeta電位儀/微電泳儀 固體(粉末)表面分析儀

DDS-307A電導率儀-上海雷磁數字電導率儀DDS-307A/電導率儀/在線電導儀/雷磁電導儀/電位分析儀

電導率儀-上海雷磁數字電導率儀DDS-307A/電導率儀/在線電導儀/雷磁電導儀/電位分析儀

電導率儀-上海雷磁數字電導率儀DDS-307A

售后保障     1、上海謙科售出的HWC-10B磁力攪拌恒溫循環水浴可享受7天包退，30天包換，1年免費維修，終身保修的貼心服務，讓您購買儀器更放心；2、您在上海謙科購買的磁力攪拌水浴鍋如在使用中有任何疑問，請直接與我公司工程師聯系（021-6051-5240   186-021-71157）我們將在24小時內對您的疑問作出響應并解答，讓您使用儀器更舒心；3、上海謙科將始終堅守“誠信”“快速”“低價”“安全”的服務，讓您買到質優價廉，服務周到的產品，為此我們不遺余力！

數字電導率儀DDS-307A
儀器特點：
儀器用于精確測量各種液體介質的電導率，當配以0.1、0.01規格常數的電導電極時，可以精確測量高純水電導率。儀器廣泛適用于各領域的科研的生產。儀器特別設計（0～2×105）μS自動六檔量程測量，使測量誤差最小。
●采用高件能微機芯片，大屏幕液晶多參數顯示●電導率測量、電阻率測量、TDS測量、溫度測量●自動校準、自動量程切換、自動溫度補償（0～100℃）
可接0.01;0.1;1;10四種規格常數的電極技術指標：1.儀器級別：1.0級 2.測量范圍：      電導率：（0～1.999）μS；             （2.0～19.99）μS；            （20.0～199.9）μS；            （200～1999）μS；            （2.0～19.99）mS；               （20.0～199.9）mS       溫度：-5～105（℃）3.電子單元基本誤差：     電導率：±1.0（FS）       溫度：±0.5（℃）4.電子單元穩定性：±0.5（FS）5.溫度補償系數：2.0（％）6.溫度補償范圍：0～100（℃）

特約定制如果您沒有在本站找到適合您的恒溫水槽（浴），您可以通過我們的定制專線與我們取得聯系或者向我們提交您的定制需求，我們會將您的需求反饋給我們的技術工程師，同時在24小時內與您取得聯系，給您提供詳細的解決方案！1、我要撥打定制專線定制需要產品：021-6051-5240   186-021-71157

該公司產品分類： 其它設備 離心機 分光光度計 電子天平 馬弗爐 干燥箱 生化培養箱 振蕩器/搖床 低溫恒溫槽 恒溫水浴鍋 蒸餾水器 高壓滅菌器 潔凈采樣車 空氣自凈器 空氣凈化器 通風柜/通風廚 生物安全柜 凈化工作臺 其它實驗室通用設備 恒溫加溫設備

WAVE 2305多孔固體孔隙率和表面電位分析儀

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多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點：

1、測定多孔固體材料的兩種不同性質的參數：孔隙率和固體表面zeta電位，包括孔壁電荷

2、探頭式測量孔隙率，快速、安全、無污染，對樣品無損傷

3、探頭式測定zeta電位

應用領域：只要是孔徑在儀器測試范圍之內、能被某種液體浸潤的材料均可進行分析。

典型的應用領域有：陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質等等

 

美國康塔（Quantachrome）是的當代顆粒技術開創者。四十年多來，康塔（Quantachrome）的科學家革新了測量技術并設計了相應的儀器，使得粉體及多孔物質的測量更加精確、精密，更加。這包括：比表面積分析儀，比表面積和孔徑分析儀，薄膜孔徑和孔隙度分析儀，超聲粒度及ZETA電位分析儀，圖像粒度儀，大孔孔徑分析壓汞儀，水吸附分析儀，高壓吸附儀，真密度計，振實密度儀等。美國康塔公司不僅通過了ISO9001 及歐洲CE 認證，也取得了美國FDA IQ/OQ認證。

更多信息請關注康塔官方網站，請點擊這里

該公司產品分類： 比表面積和孔徑分析儀 真密度計 真密度分析儀 真密度測試儀 全自動真密度計 開孔、閉孔率分析儀 開孔、閉孔率測定儀 真密度分析儀 壓實密度測試儀 壓實密度分析儀 壓實密度儀 振實密度儀 振實密度測試儀 堆密度測試儀 振實密度計 薄膜孔隙率分析儀 薄膜孔徑測試儀 圖像法zeta電位儀 比表面儀 比表面積測定儀

NICOMP 380納米粒徑與電位分析儀

Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專為復雜體系提供高精度粒度解析方案基本信息

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儀器型號：N3000 Basic 

工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

檢測范圍： 0.3nm-10.0μm

      Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有獨特技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。

 

技術優勢

 

1、高靈敏度PMT檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、精確度高，接近樣品真實值；

4、快速檢測，可以追溯歷史數據；

5、結果數據以多種形式和格式呈現；

6、符合USP,CP等個多藥典要求；

7、無需校準；

8、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與獨特的Nicomp多峰算法自由切換

9、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進樣系統（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

Nicomp多峰分布概念

 

      基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨有的兩個主要特點，Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。

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圖一：Nicomp多分分布數據呈現

 

      如圖一：此數據為Nicomp創始人Dave Nicole親測其血液所得的真實案例。其檢測項目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見，Nicomp分布模式可以有效反應多組分體系的粒徑分布。

 

 

Nicomp多峰分布優勢

       Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。

圖片3.png圖片4.png 

 

圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對比圖

      如圖二：此數據為檢測93nm和150nm的標粒按照1:2的比例混合后所測得的數據。左邊為高斯分布（Gaussian）結果，右圖為Nicomp多峰分布算法結果，兩者都為光強徑數據。從高斯分布可以得到此混合標粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無法得到實際的多組分體系結構。從右側的Nicomp多峰分布可以得到結果為雙峰，即如數據呈現，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實際情況相符。 

 

      為滿足不同客戶的實際檢測需求，我司的Nicomp 380 N3000會配備相應的配置，旨在為客戶們在控制成本的基礎上，得到需求的解決方案，取得收益。

 

產品優勢 

 

模塊化設計

      Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 380的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。

 

自動稀釋模塊

      帶有獨特的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差，且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度，這大大縮短了測試者寶貴時間，且無需培訓，測試結果重現性好，誤差率＜1%。

 

380/HPLD大功率激光器

      美國PSS粒度儀公司在開發儀器的過程中，考慮到在各種極端實驗測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環境配置了不同功率的激光發生器。大功率的激光器可以對小的粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時，折射率的特性會引起光散射強度不足。                                    

      因為大功率激光器的特性，會彌補散射光強的不足和衰減，測試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

 

雪崩二極管 (APD) 探測器

      Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。

      APD通常被用于散射發生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發生器模塊，在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。

 

380/MA多角度檢測器（選配）

      粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

該公司產品分類： 均質器 、均質機、乳化機 顆粒計數器 Zeta電位儀/微電泳儀 激光粒度儀、納米粒度儀 雜質粒度儀 AccuSizer 全自動計數粒徑檢測儀 在線計數粒徑檢測儀 online 系列 單顆粒光學傳感技術儀器 研磨液檢測儀 脂肪乳檢測儀 磨料漿檢測儀 拋光液檢測儀 AccuSizer 780 APS 拋光液檢測儀 光阻法顆粒計數器 光阻法檢測儀 光阻法單顆粒分析儀 動態光散射粒度分析儀

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺儀器測量粒度分布, zeta電位和流變性質(選件)的可能性 在一個樣品池中可以同時測量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測量傳感器, 包括溫度、pH值、電導率、和流變性質測量，以及非水系統選項和軟件控制的自動滴定系統 所有探頭均可同時操作 統一的數據管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產品簡介：利用超聲波在含有顆粒的連續相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。 傳統方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而多頻電聲技術則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe 結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數規格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無需稀釋直接測定,測量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個gap或以上 7. 粒徑測量: 5nm ～ 1000um 8. 可測量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個別粒徑 9. 測量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計圖 - 粒徑分布數據表含D10 , D50 , D90 - 數據庫可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個參數的散射圖 - 用戶定義自動選擇多數據系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動測量粒徑及Zeta電位對pH變化 13.可以及時分析/顯示Zeta電位與等電點 14.可及時測量/顯示樣品pH值,電導率,溫度 15.可選數據資料處理與顯示系統: Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產品特點：1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量 7.樣品的※高濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能產品相冊： 

 

該公司產品分類： 超聲粒度和Zeta電位分析儀 粒子界面特性評價裝置 介電常數測定儀 非水電導率測定儀 超聲流變儀 Zeta電位分析儀 超聲粒度分析儀 光學流變系統 混凝土流變儀 混凝土收縮測試儀 水泥/砂漿流變儀 砂漿干燥收縮測試儀 自動混凝土攪拌機 蛋白質聚集體分析儀 表面特性分析儀 超聲粒度和Zeta電位分析儀 圖像法Zeta電位 納米粒度及Zeta電位分析儀 微區掃描電化學顯微鏡 真密度分析儀

DT-1200高濃度膠體顆粒度及Zeta電位分析儀

主要特點

1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量 7.樣品的濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能

儀器介紹

高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,測試:  粒徑、Zeta電位、滴定、電導等  此儀器容易使用、測量精確。對于高達50％（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優化控制。  Dispersion Technology，Inc.         產品：       　                      應用于：  DT-1200聲波和電聲波測量儀        實驗室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測量  DT-100聲波測量儀                 實驗室中粒徑分析儀   DT-300Zeta電位探頭               實驗室中Zeta電位分析  DT-400自動膠體滴定               滴定、pH值、表面活性、鹽度等  分析軟件                         膠體科學領域的理論  典型應用領域：       Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學機械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環境保護浮選法礦物富集, 食品工業, 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無水體系, 油漆成像材料.  測量參數：       粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數等參數。  優于光學方法的技術優勢：       1、被測樣品無需稀釋       2、排除雜質及對樣品污染的干擾       3、不需定標       4、能分析多種分散物的混合體       5、高精度       6、所檢測粒徑范圍款從５nm至 1000um  優于electroactics方法的技術優勢：       1、無需定標       2、能測更寬的粒徑范圍       3、無需依賴Double Layer 模式       4、不需依賴（electric surface properties）電表面特性       5、Zero surface charge條件下也可測量粒徑       6、可適用于無水體系       7、可適用于高導電（highly conducting）體系  優于微電泳方法的技術優勢：       1、無需稀釋，固含量高達50%       2、可排除雜質及對樣品污染的干擾       3、高精度（±0.1mv）       4、low surface charges (可低至0.1mv)        5、electrosmotic flow 不影響測量       6、對流（convection）不影響測量       7、可精確測量無水體系

顆粒度及Zeta電位分析儀

我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專利技術---多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。傳統方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而專利的多頻電聲技術則可避免這些問題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優化控制。

產品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點 3.可適用于高導電（highly conducting）體系 4.可排除雜質及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量7.樣品的濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量 8.具有自動電位滴定功能

產品規格1.所檢測粒徑范圍款從５nm至 1000um hspace=02.可測量Zeta電位、超聲波頻率、電導率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號，動態遷移率、等電點（IEP） 3.Zeta電位測量范圍：無限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge條件下也可測量粒徑 5.允許樣品濃度：0.1～50％（體積百分數） 6.樣品體積：20-110ml（檢測粒徑），2-100ml（檢測Zeta電位）7.PH 范圍：0.5～13.5 8.電導率范圍：0.0001～10 S/m9.溫度范圍：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.電位滴定和體積滴定，滴定分辨率0.1μl

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑
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