手提式通孔銅厚測試儀
電渦流法,可測未蝕刻板及蝕刻板,可配接打印機,可輸出統計圖表,數據.可以紅外線傳輸數據.孔徑測量范圍:0.45mm-2.0mm板厚測量范圍:1.0mm-XXmm
ITM-52手提式孔銅測厚儀生產過程中能及時發現瑕疵是很重要的,所以我們研制了PTH-1這臺手提式測厚儀,用于測量線路板孔內鍍銅 (PTH) 厚度,同時也能測量敷銅板的銅箔厚度。我們的手提式PTH-1能夠快速,方便地給你答案!一種快捷和容易的測試方法- 無論已刻蝕和未刻蝕之板材均可很快地測量出孔內鍍銅厚度。- 能測量更細的孔(0.45-0.6mm)。- 可測量敷銅板銅箔厚度,一機兩用。- 高解度之LCD顯示,堅固耐用之鍵盤。- (200V) 。- 表面鍍鈦的探針可進行濕板測量,不會腐蝕探針。- 專利以渦流式設計,相比其他測厚儀能更少地受銅表面或蝕刻墊的影響。- 內建功能包括:標準統計功能,長方條表示的統計圖和索引功能。- 可儲存高至15,000個測量數據,及通過RS-232C下載(需配合軟件)。*PTH-1基本型,包括以下配件主機、EP-30探針、EP-25探針、相關配件*PTH-1D豪華型,包括以下配件主機、EP-30探針、EP-25探針、EP-20探針、SP-100探頭、相關配 |
便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676
便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676產品特點: 可測量導磁、非導磁材料。 資料儲存255筆。 可設定Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值范圍。 選擇平均值、最大值、最小值及最大值-最小值。 常用厚度量測點可使用快速一點校正。 使用者可選擇μm/mils 可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676說明
測量范圍 | 0~40.0mils (0~1000μm) |
精確度 | ±(4 位)在0~7.8mils ±(10 位)在0~199μm ±(3%+4 位)在7.9mils~40mils ±(3%+10 位)在200μm~1000μm |
解析度 | 0.1mils/1μm |
回應時間 | 1 秒 |
顯示 | 3½ 位數字液晶顯示,最大1999 讀值 |
電池電壓不足顯示 | 當電池電壓低于操作電壓時,"+ - "顯示 |
自動關機 | 15 秒 |
電池 | 9V堿性電池一節 |
精確度測試環境 | 23℃±5℃,相對濕度<75%R.H. |
操作環境 | 0℃~50℃,相對濕度<80%R.H. |
儲存環境 | -20℃~60℃,0~70%R.H. |
尺寸 | 148mm(高)x105mm(寬)x42mm(厚) |
重量 | 約260公克(含電池) |
附件 | 說明書、電池、皮套 |
美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業用于測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
測厚儀標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:
單鍍層:Ag/xx, 雙鍍層:Au/Ni/xx , 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學鍍層:Ni-P/xx.
我們可以根據客戶不同的金屬元素,鍍層結構,鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據標準片厚度值證書.
我公司是一精密測試儀器代理商,為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量,而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!!
多年來,我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業,科研機構,半導體生產等電子行業提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意,為客戶創造最大的價值是我們始終追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖!
歡迎咨詢洽談13424255969
電鍍測厚儀,電鍍層測厚儀,電鍍膜厚儀,電鍍表層測厚儀,熒光測厚儀,X光線測厚儀,二手測厚儀,二手膜厚儀,金厚測試儀
Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射線管:油冷,超微細對焦高壓:0-50KV(程控)準直器:固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統:IBM相容,17”顯示器
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.
易先生 13798524697
產品標題 | 電鍍層電解膜厚測試儀 北京 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
型號 | KH.1-20IA(微電腦型號KH.1-HQT-IB) | ||||||||||||||||||||||||||||||||
圖片 | ![]() | ||||||||||||||||||||||||||||||||
簡介 | 測量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。 測量范圍:0.03μm~99.99μm 準確度:±10% 復現精度:<5% 電位測量范圍:-100mv~+400mv 電位測量精度:±5%\\ 本產品榮獲國家輕工部科技成果三等獎。
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TT260涂層測厚儀主要技術指標
使用環境溫度 | 0~40℃ |
電源 | 鎳氫電池5×1.2V 600mAH |
外型尺寸 | 270×86×47mm |
重量 | 530g |
測量范圍 | 0—1250μm |
可使用6種測頭 | (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量 |
三種校準方法 | 一點校準、二點校準、基本校準 |
顯示分辨率 | 0.1μm(測量范圍小于100μm)1μm (測量范圍大于100μm) |
設五個統計量 | 存儲495個數據 |
有兩種工作方式 | 直接方式和成組方式 |
有兩種測量方式 | 連續測量和單次測量 |
有兩種關機方式 | 手動關機和自動關機 |
可設置限界 | 對限界外的測量值能自動報警,并可用直方圖對一批測量值進行分析 |
有刪除功能 | 對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理 |
打印功能 | 可打印測量測量值、統計值、限界、直方圖 |
其它功能 | 有音樂鈴聲隨時對操作進行提示 有電源欠壓指示功能 可以邊充電邊工作 錯誤提示功能 與計算機通訊(通訊軟件運行環境為Window操作系統),用計算機控制測厚儀工作。 |
基本配置 | TT260主機 1臺, TT260打印機 1臺 ,F1或N1測頭 1支,校準標準片 1套,充電器 1個 |