二米平面光柵攝譜儀 31WIIA
31WIIA 二米平面光柵攝譜儀31WIIA光譜儀或二米平面光柵攝譜儀本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質的成份和含量，主要用于金屬合金（包括礦物井石）的日常定性定量分析，純金屬和材料的雜贊同鑒定，與各種附件配合，用作激光微區分析、記錄閃光和弱光現象。規格： 工作波段：200-1000nm攝譜儀焦距：F=2100mm相對孔徑：1：28光柵：1200條/mm 2塊 600條/mm 1塊狹縫主要指標：寬度范圍 0.002-0.3毫米 寬度分度值 0.001毫米 寬度再現性 0.001毫米 有效高度 10毫米波長顯示:計數器（精度±1nm）外形尺寸:（長、寬、高）2400*1500*700mm重景：150kg 平面光柵攝譜儀 1臺聚光鏡組（一）連座子 1組（保護片4片）聚光鏡組（二）連座子 1組燕尾導軌 1根暗盒240*90 2盒備用一只毛玻璃 1塊8X放大鏡 1只“十字蓋” 1只調整透鏡照明系統用I、II級光譜濾色片 各1組 裝在小木盒內電極架YFR4000-04 YFR3000-03 BR4000 BR3000 BR2000 AR2000 BFR4000 AFR400 BFR3000 BFR2000 AFR2000 AW2000-01 AL2000-01 AR5000-10 AR5000-06 AR4000-06 AR4000-04（包括快速電極夾2付）1組 電極夾備用1付1200條mm可見光柵閃耀波長600nm 1塊1200條/mm紫外光柵閃耀波長300nm 1塊600條/mm紫外光柵閃耀波長300nm 1塊使用說明書（連同標準樣片） 1份譜線圖 1套合格證 1份工作臺 1套ADE-20交直流電弧發生器 1臺太陽鏡 1付安裝工具（內六角板頭） 1把裝箱單 1份連接導線 5根保險絲0.5A 3只轉椅 1把
一米平面光柵攝譜儀 31WIA
31WIA 一米平面光柵攝譜儀技術參數工作波段：200-850nm攝譜儀焦距：F=1050mm相對孔徑：1：22 AC5010-06D AC4010-06D AC4010-04D AC4010-03D AC3010-03D AC3010-02D AC2010-02D AC5000-10D AC5000-06D AC4000-06 AC4000-04D AC4000-03D AC3000-03D狹縫主要指標：寬度范圍 0.002-0.3毫米 寬度分度值 0.001毫米 寬度再現性 0.001毫米 有效高度 10毫米波長顯示:計數器（精度±1nm）光柵：1200條/mm 2塊外形尺寸:（長、寬、高）1300*1500（包括導軌在內）*600mm
儀器成套性31WIA平面光柵攝譜儀 1臺聚光鏡組（一）及其座子 1組（保護片4片）聚光鏡組（二）及其座子 1組燕尾形導軌 1根暗盒240*90（mm） 2盒備用一只毛玻璃 1塊8X放大鏡 1只“十字蓋” 1只調整透鏡照明系統用I、II級光譜濾色片 各1組 裝在小木盒內1200條/mm平行光柵（閃耀波長300nm） 1組1200條/mm平行光柵（閃耀波長600nm） 1組1800條/mm平行光柵（閃耀波長300nm） 1組太陽鏡 1付電極架（包括快速電極夾2付） 1組 使用說明書（連同標準樣片） 1份譜線圖 1套合格證 1份工作臺 1套ADE-20交直流電弧發生器 1臺太陽鏡 1付安裝工具（內六角板頭） 1把裝箱單 1份連接導線 5根保險絲0.5A 3只轉椅 1把
HIGFL10激光/LED測試用軟件
可定制光纖光譜儀波長范圍200nm－1700nm可選
HIGFL10激光/LED測試用軟件
可定制光纖光譜儀波長范圍200nm－1700nm可選
本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質的成份和含量，主要用于金屬合金（包括礦物礦井石）的日常定性量分析，純金屬和材料的雜質鑒定，與各種附件配合，用作激光微區分析、記錄閃光和弱光現象。
二．規格：
工作波段： 200nm～850nm
攝譜儀焦距： F=1050㎜
相對孔徑： A=1：22
狹縫主要技術指標： 寬度范圍0.002～0.3㎜ 寬度分度值0.001㎜
有效高度10㎜ 寬度再現性0.001㎜
波長顯示： 計數器(nm)
光柵： 1200條/㎜光柵2塊
外形尺寸：長×寬×高 1300×1500（包括導軌在內）×600㎜
重量： 100㎏
工作電源： 380V 50Hz 20A
220V 50Hz 20A