原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡
型號：HG13- NanoFirst-2000
產品介紹：
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。 產品特點：計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。 步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。 深度陡度測量，三維顯示。 納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域． 標準RS232串行接口,無需任何計算機卡 樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達40000點/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。 技術指標: AFM探頭 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY大掃描范圍：標準6X6微米 0.25nm 0.03nm(云母定標) XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米 掃描器、針尖座智能識別 44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配) AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
聯系電話：15900341123 邢小姐 QQ504843783公司網站：chinalabtech_xf@163.com型號 種類 備注CSG01 接觸 CSG01系列接觸模式SPM探針，50根/盒，共振頻率7-14KHz，彈性系數0.01-0.08N/m，僅有一個懸臂和針尖CSG10 接觸 CSG10系列接觸模式SPM探針，50根/盒，共振頻率14-28KHz，彈性系數0.03-0.2N/m，僅有一個懸臂和針尖CSG01S 接觸 CSG01系列接觸模式SPM探針，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，共振頻率7-14KHz，彈性系數0.01-0.08N/m，僅有一個懸臂和針尖CSG11 接觸 CSG11系列接觸模式SPM探針，50根/盒，每根有兩個懸臂，共振頻率7-14KHz,14-28KHz，彈性系數0.01-0.008N/m, 0.03-0.2N/mCSG11/Pt 接觸 CSG11系列接觸模式SPM探針（鍍鉑導電層），50根/盒，每根有兩個懸臂，共振頻率7-14KHz,14-28KHz，彈性系數0.01-0.008N/m, 0.03-0.2N/mCSG11S 接觸 CSG11系列接觸模式SPM探針，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，兩個懸臂，共振頻率7-14KHz,14-28KHz，彈性系數0.01-0.008N/m, 0.03-0.2N/mCSC0510/20°/5 超細 接觸模式須型SPM探針，5根/盒，有10度和20度傾角的須狀物針尖CSG11/Au/Pt/TiN/50 導電 CSG11系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦導電層），50根/盒，共振頻率7-14KHz, 14-28KHz，彈性系數0.01-0.08N/m0.03-0.2N/mCSG01/Au/Pt/TiN/50 導電 CSG01系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦導電層），50根/盒，共振頻率7-14KHz，彈性系數0.01-0.08N/m CSG10/Au/Pt/TiN/50 導電 CSG10系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦導電層），50根/盒，共振頻率14-28KHz，彈性系數0.03-0.2N/m CSG11/tipless/50 無針尖 CSG11系列無針尖探針，50根/盒，每根有兩個懸臂，共振頻率7-14KHz,14-28KHz，彈性系數0.01-0.08N/m, 0.03-0.2N/m型號 種類 備注HA－－_NC （新） 輕敲 新型高精度探針，50根/盒。每個基片有兩根長方形的多晶硅懸臂和尖銳硅針尖（典型值10nm）。共振頻率120/200 KHz,彈性常數3.4/5.8N/mNSG01 輕敲 NSG01系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，共振頻率115-190KHz，彈性系數2.5-10N/m，僅有一個懸臂和針尖NSG03 輕敲 NSG03系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，共振頻率90-116KHz，彈性系數0.5-2.2N/m，僅有一個懸臂和針尖NSG10 輕敲 NSG10系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，共振頻率190-325KHz，彈性系數5.5-22.5N/m，僅有一個懸臂和針尖NSG20 輕敲 NSG20系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，共振頻率260-630KHz，彈性系數28-91N/m，僅有一個懸臂和針尖NSG01S 輕敲 NSG01S系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，共振頻率115-190KHz，彈性系數2.5-10N/m，僅一個懸臂和針尖NSG10S 輕敲 NSG10S系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，共振頻率190-325KHz，彈性系數5.5-22.5N/m，僅一個懸臂和針尖NSG11 輕敲 NSG11系列輕敲模式SPM探針，50根/盒，每根有兩個懸臂，共振頻率115-190KHz，190-325KHz，彈性系數2.5-10N/m，5.5-22.5N/mNSG20S 輕敲 NSG20S系列，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，共振頻率260-630KHz，彈性系數28-91N/m，僅有一個懸臂和針尖NSG11S 輕敲 NSG11S系列，50根/盒，每根針尖附有SEM校準照片，兩個懸臂，共振頻率115-190KHz，190-325KHz，彈性系數2.5-10N/m，5.5-22.5N/mNSG10 DLC/10/50 超細 超細類金剛石碳（DLC）探針，10根/盒，典型曲率半徑1nm，生長在NSG10和NSG01系列探針上.（20-40根以內價格628元/根）NSG01 DLC/10/50 NSC0510/20°/5 超細 NSC05 10°/20°輕敲模式，5根/盒，有10度和20度傾角的須狀物針尖NSG11Au/Pt/TiN/WuC/50 導電 NSG11系列（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦、鍍碳化鎢導電層），50根/盒，共振頻率115-190KHz、190-325KHz，彈性系數2.5-10N/m,5.5-22.5N/mNSG01/Au/Pt/TiN/WuC/50 導電 NSG01系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦、鍍碳化鎢導電層），50根/盒，共振頻率115-190KHz，彈性系數2.5-10N/mNSG10/Au/Pt/TiN/WuC/50 導電 NSG10系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦、鍍碳化鎢導電層），50根/盒，共振頻率190-325KHz，彈性系數5.5-22.5N/mNSG20/Au/Pt/TiN/WuC/50 導電 NSG20系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦、鍍碳化鎢導電層），50根/盒，共振頻率260-630KHz，彈性系數28-91N/mNSG03/Au/Pt/TiN/WuC/50 導電 NSG03系列輕敲模式SPM探針（分別鍍金、鍍鉑、鍍氮化鈦、鍍碳化鎢導電層），50根/盒，共振頻率90-116KHz，彈性系數0.5-2.2N/mNSG01/Co/50 磁性 NSG01系列輕敲模式SPM探針（鍍鈷鉻磁性層），50根/盒，共振頻率115-190KHz，彈性系數2.5-10N/mNSG03/Co/50 磁性 NSG03系列輕敲模式SPM探針（鍍鈷鉻磁性層），50根/盒，共振頻率90-116KHz，彈性系數0.5-2.2N/mNSG11/tipless/50 無針尖 無針尖NSG11系列，每頭兩個懸臂，50根/盒，共振頻率115-190KHz，190-325KHz，彈性系數2.5-10 N/m,5.5-22.5N/mNSG20/tipless/50 無針尖 無針尖NSG20系列，50根/盒，一個三角形懸臂，共振頻率260-630KHz，彈性系數28-91N/mMF002/003/004/10 SNOM 一套10根/盒SNOM探針（波長480-550nm）（波長600-680nm），（波長780-1050nm），沒有音叉DCP11/50 金剛石鍍層 輕敲模式鍍金剛石導電探針DCP11系列，50根/盒，每根探針有兩個懸臂，共振頻率190-325KHz，115-190KHz；彈性系數5.5-22.5N/m，2.5-10N/m。穩定的、非破壞性的金剛石鍍層可供長期使用。DCP11/15 DCP20/50 金剛石鍍層 輕敲模式鍍金剛石導電探針DCP20系列，50根/盒，每根探針有一個懸臂，共振頻率260-630KHz；彈性系數28-91N/m，AFM氧化刻蝕的理想探針。DCP20/15
它保證了定位的絕對精度在10納米（這比市場上的閉環原子力顯微鏡的性能好10倍）。
這些突出的特性，再配以APE研究的獨特的軟件工具，使得這款儀器適用于納米光刻。 A100-AFM SGS 配備了彎曲掃描鏡臺，這保證了高平面度使得用戶可以進行大范圍的測量（可以達到100微米）。 APE研發了原子力顯微鏡的附加工具，這可以用于一些具體的測量模式（如EFM（靜電力顯微鏡），MFM（磁力顯微鏡），Liquid cell（液體池）） 我們還和意大利研究院合作研發其他工具以滿足用戶可能提出的要求。
A100-SGS AFM
A100-SGS SPM（掃描探針顯微鏡） 鏡臺
掃描鏡臺具有包含張力測量傳感器的獨立定位系統
掃描器技術資料：
X-Y掃描范圍：
100*100微米（高電壓模式）；
10*10微米（低電壓模式）
高電壓模式分辨率：閉環：2nm，開環：0.2nm
閉環線性度：0.1%
Z掃描范圍：10微米（高電壓模式）；
1微米（低電壓模式）；
分辨率：0.16納米（高電壓模式），
0.02納米（低電壓模式）。
AFM Head 適用于接觸模式，非接觸模式，半接觸模式和橫向力模式
AFM Head 具有工業級的懸臂支架保持器，該保持器可以移動（很容易在懸臂上安裝和拆卸），也很容易固定在懸臂上。頭部還具有裝備了激光和光電二極管傳感器的前置放大器。
SPMCU2-PI
SPM 控制單元
SPM控制單元和計算機（配別有多輸入輸出主板）驅動掃描器，數據采集和采樣運動
采樣距離的末端由超低噪聲的模擬反饋控制，該模擬反饋由計算機數字化驅動。
該系統的硬件時鐘是高速的和高精度的
HVA3-PI Unit
高電壓放大器
HAV是一種高電壓放大器模塊可以驅動A-100 SGS 掃描鏡臺
計算機和數據采集板
WindowsXP、Vista 操作系統；奔騰處理器或酷睿2，1G/2GDDR2 SDRAM內存，160G硬盤，DVD光驅，鍵盤和鼠標，19寸液晶顯示器，采集板和接口。
采集軟件
軟件運行是基于窗口的，為了儀器控制和數據采集，還支持多窗口操作。軟件具有簡易的濾波器可以實時分析并獲取圖像。軟件控制了儀器的所有參數。
APE研究的儀器裝備了圖像測量數據分析軟件的基本模塊，另外14項可選的功能也可以獨立的獲得。
輔助
光刻工具
隧道掃描顯微鏡工具
ＭＦＭ（磁力顯微鏡）工具
ＥＦＭ（電場力顯微鏡）工具
ＣＡＦＭ（導電原子力顯微鏡）工具
液體池
隔音箱
桌臺
6800AFM
原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等。
可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。
應用行業：高校（理工類）實驗室、科研機構、公安刑偵和工業檢測部門。
一、主要功能特點 硬件系統
1、光機電一體化設計，外形結構簡單；
2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；
3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；
4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
5、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；
6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；
7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；
8、帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；
9、采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能；
10、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。
12、帶溫度顯示。
13、彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強
軟件系統
1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具備接觸、輕敲,可選配相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；
3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；
4、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；
6、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；
7、可任意選擇樣品起始掃描角度；
8、激光光斑檢測系統的實時調整功能；
9、針尖共振峰自動和手動搜索功能；
10、可任意定義掃描圖像的色板功能；
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二、主要技術指標1、工作模式：接觸、輕敲、可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力
2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3、最大掃描范圍：橫向50um，縱向5um
4、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
6、掃描角度：任意
7、樣品移動范圍：0～50mm
8、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms
9、光學放大倍數：10X
10、光學分辨率：1um
11、圖像采樣點：256×256，512×512
12、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
13、數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
14、反饋方式：DSP數字反饋
15、反饋采樣速率：64.0KHz
16、計算機接口：USB2.0
17、運行環境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統
原子力顯微鏡（二）1000AFM
一． 主要功能特點
硬件系統
1、主機與控制箱分開，外形結構簡單；
2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；
3、精密激光定位裝置，使用時無需調節光斑位置；
4、采用精密探針定位模塊，更換探針簡單方便；
5、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
6、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；
7、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；
8、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；
9、帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；
10、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用；
12、彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強。
13、帶溫控、濕控功能
軟件系統
13、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；
14、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；
15、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；
16、可任意選擇樣品起始掃描角度；
17、激光光斑檢測系統的實時調整功能；
18、可任意定義掃描圖像的色板功能；
19、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；
20、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；
21、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二． 主要技術指標
22、工作模式：接觸、輕敲，可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力
23、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
24、最大掃描范圍：橫向20um，縱向2um
25、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
26、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
27、掃描角度：任意
28、樣品移動范圍：0～20mm
29、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms
30、光學放大倍數： 4X
31、光學分辨率：2.5um
32、圖像采樣點：256×256，512×512
33、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
34、數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
35、反饋方式：DSP數字反饋
36、反饋采樣速率：64.0KHz
37、計算機接口：USB2.0
38、運行環境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統
特點與優勢