數(shù)字（參數(shù)）集成電路測(cè)試儀
YK-DZ-JCDL集成電路測(cè)試儀
[主要測(cè)試參數(shù)]1 電源電流+Icc1、-Icc1、Icc22 內(nèi)部參考電壓Vref3 失調(diào)電壓Zero4 增益誤差Gain5 線性誤差Linearity6 微分線性誤差Differential7 電源電壓靈敏度dFSV1+、dFSV1-、dFSV2+8 管腳參數(shù)Iil、Iih、Voh、Vol[主要技術(shù)指標(biāo)]1）測(cè)壓指標(biāo)：測(cè)量量程 精度±（5.0V～10.2V） ±（0.025％Rdg＋472uV）±（2.5V～5.0V） ±（0.025％Rdg＋236uV）±（<2.5V） ±（0.025％Rdg＋196uV）2）測(cè)流指標(biāo)（2.5mA～5.1mA）FSR ±（0.05％Rdg＋236nA）（1.25mA～2.5mA）FSR ±（0.05％Rdg＋118 nA）（<1.25mA）FSR ±（0.05％Rdg＋98 nA）
ICT-33CICT-33C集成電路測(cè)試儀
| 產(chǎn)品特點(diǎn)： |
| · 器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 · 器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號(hào)。 · 器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 · 器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 · 電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。 · 內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 · EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器 件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。 · EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K 以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 · 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。 |
| 技術(shù)規(guī)格：（可測(cè)1300種） |
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集成電路測(cè)試儀
專業(yè)生產(chǎn)銷售電路板故障測(cè)試儀；電路在線測(cè)試儀;IC測(cè)試儀;電路板故障測(cè)試儀;線路板維修儀;電路板維修儀;線路板維修測(cè)試儀;集成電路維修測(cè)試儀;變頻器維修測(cè)試儀;紡織電路板維修測(cè)試儀;工控電路板維修測(cè)試儀;電路在線維修測(cè)試儀
已有多年的電路維修測(cè)試儀研制生產(chǎn)、銷售服務(wù)、推廣應(yīng)用的歷史。電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障測(cè)試儀，可以的幫助維修工程師快速在線檢測(cè)出各種損壞型電路板的故障，將故障定位到集成電路、元件或電路結(jié)點(diǎn)或端口上. 專注于電路在線維修測(cè)試儀的研發(fā)、生產(chǎn)、推廣應(yīng)用的專業(yè)化企業(yè)。自上世紀(jì)九十年代初推出國內(nèi)最早的電路在線維修測(cè)試儀以來，產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域的電路板維修。尤其在進(jìn)口大型自動(dòng)化設(shè)備的電子電路板的維修中，起到了其它維修檢測(cè)儀器無法替代的作用。 電路維修測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,集成電路測(cè)試儀,電路板維修測(cè)試儀,電路板測(cè)試儀電路板故障測(cè)試儀，電路在線測(cè)試儀，IC測(cè)試儀，電路板故障測(cè)試儀，線路板維修儀，電路板維修儀，線路板維修測(cè)試儀，集成電路維修測(cè)試儀，變頻器維修測(cè)試儀，紡織電路板維修測(cè)試儀，工控電路板維修測(cè)試儀，電路在線維修測(cè)試儀
電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障檢測(cè)設(shè)備，能夠的幫助我們?cè)诰檢測(cè)各種類型的電路板；并將故障定位到集成電路、元件、端口或電路結(jié)點(diǎn)上；系統(tǒng)集成了通用器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫，直接輸入器件型號(hào)即可進(jìn)行器件功能以及性能測(cè)試。借助了電路在線維修測(cè)試儀，可以大大改善工作效率，提高故障檢出率，讓維修工作真正做到更、更快捷、更。 于工業(yè)電路板測(cè)試與維修領(lǐng)域，已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于航天電力、軍事裝備、通信醫(yī)療、鐵路造船、冶金石化、紡織印刷等行業(yè)的電路板維修業(yè)務(wù)中，已經(jīng)成為維修電路板最的檢測(cè)儀器。對(duì)于解決在電路板故障檢測(cè)中遇到的各種問題，都起到了傳統(tǒng)維修工具無法替代的作用。電路板故障在線檢測(cè)儀－－－－維修電路板最理想的測(cè)試工具......
YB3116A數(shù)字集成電路測(cè)試儀,YB3116A
| 產(chǎn)品名稱 | 數(shù)字集成電路測(cè)試儀 |
| 產(chǎn)品型號(hào) | YB3116A |
| 相似型號(hào) | |
| 商 標(biāo) | 綠揚(yáng) |
| 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) | |
| 認(rèn)證種類 | |
| 價(jià) 格 | 4600元 |
| 交貨方式 | |
| 生產(chǎn)廠商 | 江蘇綠揚(yáng)電子儀器集團(tuán)有限公司 |
| 產(chǎn)品說明 | 可測(cè)試TTL54/74,55/75,4000,45系列,常用RAM,EPROM/CPU接口電路/光電耦合器件等 |
| 備 注 |
匯能HN2600MX/C 電路測(cè)試儀（價(jià)格優(yōu)惠）
匯能HN2600MX/C 是一款高性能的線路板測(cè)試儀，支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)，使用主流USB通信接口，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測(cè)試，數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試，模擬特征分析測(cè)試等等。
一、主要技術(shù)指標(biāo)： 1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。 2．通訊接口：主流的USB接口。 3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道：40通道，支持驅(qū)動(dòng)電平 ±（1～15）V。 4．模擬測(cè)試通道：160路。 5．總線隔離專用數(shù)字通道：8通道。 6．后驅(qū)動(dòng)電流：≥300 mA。 7．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～610 Ktv/S）8檔可選。 8．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài):13種。 9．?dāng)?shù)字器件的閾值電平：TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。 10.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）：3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。 11．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。 12．測(cè)試探棒:2組8個(gè)測(cè)試口。 13．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。 14．VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期。 15．輸出阻抗匹配：100Ω / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選。 16．模擬通道最大測(cè)試頻率: 2.6KHZ。 17．脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V～±28V。 18．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值：25Ω±5Ω。 19．腳踏開關(guān)：支持。 二、 主要測(cè)試功能： 1.數(shù)字邏輯器件性能（直流參數(shù)）測(cè)試：維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，有些器件的原有功能尚能實(shí)現(xiàn)，但參數(shù)卻發(fā)生了變化，元 件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定，設(shè)備或電路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測(cè)試功能，支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測(cè)試。如輸入漏電流（Iih,IiL,Vih,ViL）;輸出驅(qū)動(dòng)電流（IOL，IOh，VOL，VOh）。 2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測(cè)試：能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；測(cè)試器件庫龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種；測(cè)試范圍廣：TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門子器件庫。 3．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試：ASA測(cè)試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障，可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件功能，無論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測(cè)；ASA測(cè)試是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無需給電路板加電，使用較為安全。 4．單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試：對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。 5．ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試：使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法最有效。 6．ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能：當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。 7．ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)：當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。 8．可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù)：可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測(cè)試的靈活性。 9．ASA 曲線故障快速定位/查找功能：當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、直觀。 10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別：增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。 11. VI曲線參數(shù)值量化功能：即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。 12.求取平均曲線的測(cè)試功能：用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。 13．VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板（一塊好板和一塊壞板）上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較測(cè)試，測(cè)試效率極高。14．三端器件測(cè)試：完成對(duì)三端（含輸入/輸出）分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能，如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。 15．ASA 曲線多種排列/顯示方式：可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點(diǎn)”或“畫線”來顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。 16．電容、電感定量測(cè)試：可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程；能夠測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻； 17. 電路板圖象建庫測(cè)試：通過數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而建立起整板的測(cè)試庫,當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。 18．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試：能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)。 19．總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能：用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。 20．IC型號(hào)識(shí)別：針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。 21． LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。 22．讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試:直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測(cè)試無需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫，可采用在線、離線測(cè)試方式。 23．只讀存儲(chǔ)器功能測(cè)試：可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。 24．元器件循環(huán)測(cè)試功能：該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。 25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能：閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V，低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。 26．加電延遲可選功能：當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。 27．測(cè)試夾接觸檢查功能：主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判。 28．運(yùn)算放大器在線功能測(cè)試：使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國家發(fā)明專利，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。 29. 電壓比較器測(cè)試：模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過本測(cè)試儀可以很容易實(shí)現(xiàn)。 30．光電耦合器在線功能測(cè)試：由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫，達(dá)500多種 31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率； 32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。 33. UDT下AD、DA類器件功能測(cè)試：用戶通過UDT控制匯能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)與預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。 34. AFT電路故障追蹤：AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測(cè)試庫，用于對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。 35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。 36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小,以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。 37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫：以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。 38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫：采用HNDDL語言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫。 39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：元件庫容量近四萬種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。 40．維修日記：供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。 41．后臺(tái)操作記錄：測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過程及測(cè)試結(jié)果等信息。
ICT33C+ ICT33C+ 集成電路測(cè)試儀|美達(dá)
1．工作原理： ICT33C+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想，以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心，配合大規(guī)模軟件和擴(kuò)展系統(tǒng)來模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是最重要，最根本，最能說明問題的參數(shù)。
AT192AT192全品種集成電路測(cè)試儀
最大測(cè)試管腳:192腳
測(cè)試適用范圍：
元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）
測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試儀操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).2.將集成電路插入測(cè)試座.3.執(zhí)行測(cè)試4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.
商品輸入檢驗(yàn)
不需要電子專業(yè)知識(shí).適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板靈活、好安裝、宜操作.測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.集成電路測(cè)試儀 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳（DIL）-小型封裝集成集成電路（SOIC）-小型封裝（SSOP, TSOP）-塑料無引線芯片載體封裝（PLCC）-四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP）-球門陣列封裝（BGA）注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。測(cè)試通道
標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。升級(jí)模塊：64通道 可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。
用兩種模式掃瞄:
一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。
通用型PLCC轉(zhuǎn)接器（用于測(cè)試有20～84腳的PLCC封裝）
數(shù)據(jù)庫
用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫，以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間，操作十分簡(jiǎn)單容易。結(jié)果比較型式:將數(shù)據(jù)庫中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測(cè)IC的好壞,提供兩種比較型式:與數(shù)據(jù)庫中元件比較: 被測(cè)IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫中的相同型號(hào)的IC比較被測(cè)IC之間比較比較: 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線相比較。軟件- 靈活性
1）軟件提供測(cè)試庫圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫, 2）軟件可以自定義各個(gè)通道的使用，一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件報(bào)告
1）軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告, 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中，并可隨時(shí)讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
針印（PinPrint）動(dòng)態(tài)阻抗詳細(xì)分析元件的管腳.
定制化的報(bào)告（PinPrint）.
轉(zhuǎn)接器
1）標(biāo)準(zhǔn)型:
用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器
通用型:
用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”～0.6”達(dá)44腳的集成電路。
客制型:
可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢, 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。
BGA插座轉(zhuǎn)接器
技術(shù)規(guī)格
| 掃描測(cè)試波形 | 正弦波,鋸齒波，三角波 |
| 掃描測(cè)試頻率 | 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz |
| 掃描電壓（Vs） | 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進(jìn)0.1V |
| 掃描源電阻（Rs） | 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ |
| 掃描通道 | AT128通道數(shù)量:128通道（已停產(chǎn)） AT192通道數(shù)量:192通道 AT256通道數(shù)量:256通道 顯示模式:VI曲線圖 掃描模式:手動(dòng)或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù) |
| 掃瞄模式 | 一般模式:掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上. 矩陣模式:掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上. |
| 電腦連接 | USB 連接電腦使用,標(biāo)準(zhǔn)配置含上位機(jī)軟件 |
| 適合不同封裝形式元件: | 適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳（DIL） -小型封裝集成集成電路（SOIC） -小型封裝（SSOP, TSOP） -塑料無引線芯片載體封裝（PLCC） -四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP） -球門陣列封裝（BGA） 注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊及電路板。 |
| 測(cè)試報(bào)告 | 可自行編輯測(cè)試報(bào)告 |
| 功率需求 | 線路電壓:85～264VAC 頻率:47～63Hz 功率:最大150W |
| 尺寸/重量 | 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg |
| 操作溫度.濕度 | 溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。 |
| 保修期 | 一年 |
| 認(rèn)證 | CE認(rèn)證& RoHS合格。 |
| 計(jì)算機(jī)規(guī)格需求 | Microsoft Windows XP或Vista Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸 鼠標(biāo),鍵盤與屏幕 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配件: | 用戶手冊(cè)。 USB導(dǎo)線。 軟件CD（含驅(qū)動(dòng)程序與操作手冊(cè)）。 |
| 選購配件: | 校正工具組。 各種轉(zhuǎn)接器。 |
儀器用途一
翻新及二手器件檢測(cè)
可由倉庫部門在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報(bào)告, 確定問題的來源。翻新及二手器件檢測(cè)儀
能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。透過精密的PinPrint（針印）測(cè)試算法則,能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透?jìng)Α：沃^偽造翻新集成電路Counterfeit [koun-ter-fit]（形容詞）: 意思是仿造, 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。制造膺品（仿冒品）集成電路是非法的, 會(huì)出現(xiàn)（仿冒品）是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn), 也或許曾經(jīng)收到過大批的”不良”元器件。仿冒可透過各種過程達(dá)成: 在極不可靠的過程里, 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標(biāo), 然后拿來當(dāng)作真品賣給粗心的買家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班（ghost shift）生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒有硅片（silicon die）。很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行第一次測(cè)試時(shí), 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過程－辨識(shí)問題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。5年來, 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當(dāng)于損失60億的銷售額。
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DT307-8221多功能電路檢測(cè)儀 多功能電路測(cè)試儀 數(shù)顯式電路測(cè)試儀
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