CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度 簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優化，測量元素范圍廣： 可預設參數 CMI900 提供800多種預設應用參數/方法 杰出的長期穩定性： 自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果 簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅固耐用的設計 可以在實驗室或生產線上操作 堅固的工業設計 經行業驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺
| 品牌：OXFORD CMI（英國牛津） 簡介：CMI900X射線熒光測厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內外領先的技術水平,更有良好的售后服務和的解決方案 □適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。 □服務優勢：具有最多的服務網點和強大的技術支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標準片，分辨率：0.01mils（0.25μm） □測量范圍：磁感應0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm） 用途：廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量
廣東正業科技有限公司http://www.zhengyee.com 聯系人：黎前華 電話：13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 廣東正業儀器儀表銷售有限公司專業供應銷售CMI900X射線熒光測厚儀，歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息！天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內外領先的技術水平，更有良好的售后服務和的解決方案。供應CMI900X射線熒光測厚儀，CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，廣東CMI900X射線熒光測厚儀， |
主要規格 規格描述 X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器 多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器） 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器） 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 －樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統配置 IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應用軟件 操作系統：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 －基本分析功能 采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 －調整和校正功能 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移 －測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point ａnd Shoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 －樣品臺程控功能 設定測量點 連續多點測量 測量位置預覽（圖表顯示） －統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 數據庫存儲功能 任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 －系統安全監測功能 Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師
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STRATA960,980,CMI900,CMI700,CMI500,CMI900CMI900CMI165等各種型號鍍層測厚儀,并為客戶提供及時,的售前/售后服務和技術支持13712542526CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀
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利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
X-Strata鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經行業認證的技術和可靠性
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/920主機的全面自動化控制，
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先于世界C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI920可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。