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CMI900CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素 精度高、穩定性好 強大的數據統計、處理功能 測量范圍寬 NIST認證的標準片 全球服務及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術參數

主要規格 規格描述 X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器 多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 －樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統配置 IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應用軟件 操作系統：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 －基本分析功能 采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 －調整和校正功能 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移 －測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 －樣品臺程控功能 設定測量點 連續多點測量 測量位置預覽(圖表顯示) －統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 數據庫存儲功能 任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 －系統安全監測功能 Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

 

CMI960x射線熒光測厚儀

CMI960x射線熒光測厚儀

CMI做為品牌在PCB及電鍍行業已形成一個行業標準，90%以上的大型企業在使用CMI系X-RAY機做為測量鍍層厚度的行業工具，而今上市一款X-starata960在測量貴金屬方面達到同行業前所未有的高度

X-starata960說明及與CMI900的對比

基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

  • 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
  • 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
  • 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
  • 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
  • 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
  • 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
  • PC用戶界面　

新型X-STRATA 960即時分析儀代表了牛津儀器（OXFORD INSTRUMENTS）鍍層厚度測量和材料成份分析技術的一次重大飛躍。軟件和硬件領域的新提高了我們X線系列產品的性能。X-STRATA 960能夠測量極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并測量氮化鈦鍍層。X-STRATA 960分析儀能夠即時分析黃金和其它貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成份的技術中獲益。像我們所有的儀器一樣，這個系列的儀器也由牛津儀器集團提供技術支持。我們在售前和售后都提供的服務。測量和材料分析系統軟件所有Oxford X線熒光系統都配備有Oxford Smartlink FP系統操作軟件包。這是一種基于windows的綜合性基本參數軟件程式。規格簡介無標準效準：Oxford支持使用標準以解決順應性和系統優化問題包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體l 5層/15種元素/普通元素效正同時為多達15種元素進行成份分析貴重金屬分析和金純度檢查材料與合金元素分析材料鑒定與區別吸收測量方式液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液系統自動調整和效正：效正X線導管、探測器和電子設備的變化光譜計數速率峰值位移效正重疊熒光峰值數字峰值反卷定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達四個光譜Oxford統計數字和報告產生器LE（輕型）Oxford SmartLink 補充軟件系列Oxford統計數字和報告產生器配備數據庫的Oxford統計數字和報告產生器Oxford即時分析Oxford材料區別Oxford Percent P有了Oxford SmartLink補充軟件系列，您就能夠將原始數據轉變成強有力的資訊。所有的Oxford統計數字和報告產生器都讓您根據自己的需要選擇定制報告。統計數字軟件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范圍，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，組織圖，X-bar/R。所有的性質都可以用多媒體形式做圖表演示。用戶可以輸入測量元件的數字圖像或CAD文件，并把它們直接放在品質報告上。配備數據庫的Oxford統計數字和報告產生器：與上面相同，但包含一個完整的數據庫。數據庫總共包含十個可追蹤域，其中八個為用戶定義域。元件號和日期/時間域為標準域。通過用戶選擇索引對數據進行存檔、索引和分類處理。Oxford即時分析、材料區別和Percent P等選項，能夠為您的具體應用優化X-STRATA 960儀器的功能。這些選項可能包含附加軟件、定制功能和附加硬件，以提高系統性能。激勵下視X線。X線射束90度采樣100W風冷微聚焦X導管，提供鎢、鉬和其它陽極。電力：最大瓦特，4-50kv可編程，0-1.5mA準直管：多個（最多4個），可編程，圓形，矩形（我們將幫助您選擇適合于您應用的準直管）主要過濾器：提供各種厚度及材料X線探測器和信號處理X線探測器：密封氙氣正比計數器；提供其它填充氣體探測器過濾器：最多3個，5個位置，可編程-馬達驅動；提供釩、鐵、錫、和其他元素高速探測器信號處理電子設備，具有峰值位移校正功能樣品處理樣品室：開槽在X、Y、Z軸上可編程馬達驅動控制高清晰度、實時、彩色樣品示圖，15〞（38.10cm）（標準）彩色樣品圖像捕獲和打印激光樣品聚焦電腦產生十字線，準直管尺寸指示器，用于樣品準定位可變聚焦距離控制，以適應變化的樣品外型樣品變大：選擇30、50、或100放大。提供固點聚焦距離或可變聚焦距離選項測量鼠標器啟動“點擊”測量自動測量重復功能安全：多用戶多級密碼保護電腦/處理器oxford是IBM的授權PC附加值銷售商。請致電oxford了解的IBMPC規格。

印機：Epson或惠普噴墨打印機。請致電oxford查詢的型號和規格。可聯網榮譽由oxford擁有/管理的國際現場服務團隊符合ISOGuide25號的要求CE標志

測厚儀 手提式X射線熒光測厚儀

技術參數

重 量： 基體配置1.2kg；1.6kg帶電池 尺 寸： 長度：30cm；高度：23cm；寬度：7.5cm X射線發生器：銀或鎢靶微型X射線管；10-40kV，10-50µA 主要過濾器：5個過濾器 測量尺寸：接觸樣品表面測量時，7.75 mm X射線探測管：Si-PIN高分辨率探測系統 溫度范圍：-10℃—50℃ 電源： 可充電鋰離子電池；含2塊電池及充電器；AC轉換器及多電池電源可選購。 參數調整：不銹鋼316作為參考標準

主要特點

HMX系統主要特點 無論體積多大的電鍍件，HMX系統是理想的解決辦法 對于QC、電鍍線以及實驗室分析等應用的現場測量 現場的樣品分析 基材管理的合金分類以及合金確認 獨特的“分組測量”模式，允許計算一組部件的平均厚度

COMPACT5X射線熒光測厚儀

德國宏德金屬鍍層測厚儀Compact eco:Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的. 備有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統。可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

自動測量功能：編程測量，自定測量修正測量功能：底材修正，已知樣品修正定性分析功能：光譜表示，光譜比較定量分析功能：合金成份分析數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.超越其他品牌的所謂FP軟件.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀

產品名稱CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
產品功能CMI900/950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；幷且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
產品特點
產品圖片

X射線熒光測厚儀

產 品 說 明
設備圖片
設備介紹
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
●標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
●超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
      CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
●全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為●300mm x 300mm。此樣品臺可實現測定點自動編程控制。
●Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
●全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。
●可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
 
技術規格

主要規格

規格描述

X射線激發系統

 

 

 

 

 

 

垂直上照式X射線光學系統

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標準

         75W4-50kV，0-1.5mA－任選

X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

濾光片程控交換系統

根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口

準直器程控交換系統

 

最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

 

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm

使用0.025 x 0.05 mm準直器

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm

使用0.3mm準直器

X射線探測系統

封氣正比計數器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結構

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－最大樣品臺尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－XY軸程控移動范圍

標準：152.4 x 177.8mm

任選：50.8mm x 152.4mm

50.4mm x 177.8mm

101.6 x 177.8mm

177.8 x 177.8mm

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時，150mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統

高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。

50倍和100倍觀察系統任選。

激光輔助光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計算機系統配置

IBM計算機：2.8G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，15寸液晶，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機

分析應用軟件

操作系統：Windows2000中文平臺

分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。

－基本分析功能

 

無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體鍍液中的元素含量

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

組成分析時，可同時測定15種元素

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

－調整和校正功能

系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移

譜峰計數時，峰漂移自動校正功能

譜峰死時間自動校正功能

譜峰脈沖堆積自動剔除功能

標準樣品和實測樣品間，密度校正功能

譜峰重疊剝離和峰形擬合計算

－測量自動化功能

要求XY程控機構

 

鼠標激活測量模式：“PointShoot”

多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式

測量位置預覽功能

激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能

設定測量點

One or Two Datumn reference Points on each file

測量位置預覽圖表顯示

－統計計算功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
－系統安全監測功能
Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師
－任選軟件
 
統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
材料鑒別和分類檢測
材料和合金元素分析
貴金屬檢測，如Au karat評價

Thick 800AX射線熒光測厚儀價格*深圳天瑞新聞

產品名稱

X射線熒光測厚儀價格是企業采購中比較關心的方面，既能滿足客戶的要求，價格又便宜，是款快速無損測厚儀器，主要針對金屬鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍鋅、鍍銅等）厚度檢測，廣泛應用于電鍍廠、電子電器企業、五金工具廠、線路板企業、電子連接器企業等。天瑞儀器是內較大的熒光X射線測厚儀廠家，分析儀器上市公司，產品打破了外壟斷局面，在內占有定的市場份額，熒光X射線測厚儀品牌企業。

性能優勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求較小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 次可同時分析多達五層鍍層較薄可測試0.005μm分析含量般為2ppm到99.9% 鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回收程序工作穩定性高度適應范圍為15℃至30℃電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm重量：90 kg

售后服務

天瑞儀器作為個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為身的綜合性儀器供應廠商，熒光X射線測厚儀生產企業，直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供方位的服務。    我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、回訪、巡檢等過程、方位、系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。“快速、、到位”的服務較長保修期較個性化服務較低維護費用較短交貨時間較快安裝較短維修周期

產品性能優勢

測試范圍廣X射線熒光測厚儀，是種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。性高由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的性更高。滿足不同需求測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。性價比高：相比化學分析類儀器，熒光x射線測厚儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。簡易對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。快速1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。方便X射線熒光測厚儀部分機型采用進口際上較的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。直觀實時譜圖，可直觀顯示元素含量。

X射線熒光測厚儀

 

廠家優勢

天瑞儀器是專業生產X射線熒光測厚儀的廠家，分析儀器上市企業，價格優惠，質量有保障，售后服務方便且成本低。

鋁業網圖片天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司三家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。售后網點：

昆山公司 地址：江蘇省昆山市玉山鎮中華園西路1888號天瑞產業園   陽光天地 地址： 深圳市羅湖區田貝四路陽光天地天地軒2009  
深圳公司 地址： 深圳市寶安區松崗街道芙蓉東路桃花源科技創新園松崗分園琦豐達大廈22層AB座   天津技術網點 地址： 天津市東麗區津唐路景新苑 9 號樓 1 ―― 402 室  
浙江技術網點 地址： 浙江省寧波市海署區常青路柳錦花園98弄76號106 室              浙江省溫州市鹿城區學院東路新田園1組團   福建技術網點 地址： 福建省廈門市嘉禾路東方財富廣場 B 棟 706 天瑞儀器福建技術網點  
江滬技術網點 地址： 江蘇省昆山市玉山鎮中華園西路1888號天瑞產業園   東北三省技術網點 地址： 沈陽市于洪區白山路 68-13 號依云北郡 B1-3-8-2 號  
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該公司產品分類： 鄰苯二甲酸鹽檢測儀 液相色譜儀 x射線電鍍層測厚儀 增塑劑（DBP、BBP、DEHP、DIBP）檢測儀 rohs2.0檢測儀器 vocs在線監測儀 合金分析儀 糧油重金屬檢測儀XRF 鍍層測厚儀 離子色譜IC 電感耦合等離子體光譜儀（ICP） 波長色散（WDX） 能量色散（XRF） 車內有機物檢測 汽車有害元素檢測 汽車有害物質檢測方案 皮革八大重金屬檢測儀 rohs檢測儀 土壤重金屬測試儀器 皮革鄰苯7P檢測儀

Thick8000X射線熒光測厚儀

產品簡介 x射線熒光測厚儀是款通過X射線照射方式測試電鍍層厚度的儀器，針對鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀等鍍層厚度檢測，次性多可以測5層，是種無損儀器，整個操作通過電腦過程清晰可見，而且操作非常簡單，人員簡單的培訓即可上崗操作，降低了企業在來料（不合格）和生產過程中因產品鍍厚或者鍍薄而造成的不必要損失。

 

參數規格

 

X射線熒光測厚儀可以分析從硫到鈾之間的元素，同時可以測試24種元素之多，含量范圍般從2個PPM到百分之99.9；鍍層厚度般在50μm以內，不同材質略有差異，的SDD探測器，高清的工業攝像頭，儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm，樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm，樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

 

產品功能

 

新款Thick8000x射線熒光測厚儀秉承了上代Thick800A的優點，在此基礎上設計了三維移動平臺，的樣品觀測系統和圖像識別功能，滿足了槽狀樣品的測試和不同規格樣品的測試，同時加上大面積的高分辨率的探測器，大大提高了度，為客戶提供更的測試，從而降低產品的成本，提高產品的競爭力。

產品選型 

X熒光鍍層測厚儀品牌，thick800ax-ray鍍層測厚儀，x熒光鍍層測厚儀價格，thick8000鍍銀層無損測厚儀，x熒光鍍層測厚儀，金屬鍍層測厚儀，X熒光電鍍層測厚儀，鍍層膜厚測試儀，銅上鍍鎳金測厚儀，X熒光金屬膜厚測厚儀，x熒光金屬測厚儀，無損金屬鍍層測厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測厚儀,thick600金屬鍍層分析儀，鍍銀厚度測試儀，EDX1800B膜厚測試儀x-ray ，金屬鍍層膜厚儀，X射線熒光多鍍層厚度測量儀，銅鍍銀X射線無損測厚儀，鍍層分析儀

服務廠家

 

天瑞儀器憑借產品的性能、完善的售后服務，以及超高的性價比取得的美的生活電器技術家的致與青睞。應用案例

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目天瑞儀器的產品已經服務于海爾、創維、LG、長虹、TCL、美的、美菱、三星、方太等多數內外知名生活電器品牌，成功地為中的電子電器行業提供了分析檢測域為完善的行業解決方案。

應用域

 

x射線熒光測厚儀主要應該用在電子電器（線路板/PCB）、五金工具、電鍍加工、制冷設備、半導體、五金配件、端子連接器、腔體等企業中。

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廠家介紹

 

江蘇天瑞儀器股份有限公司是內早研發生產x射線熒光測厚儀的廠家，在行業內內品牌和知名度非常高，市場占有率內先，同時公司在分析儀器域也是佼佼者，在2011年成功上市，憑借產品質量和售后服務得到了客戶的，整個產品來說性價比非常高。

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同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案，從而推動中經濟快速球化。公司被授予 “家火炬計劃重點高新技術企業”，“江蘇省高新技術企業”，“江蘇省軟件企業”，“江蘇省科技創新示范企業”，“江蘇省規劃布局內重點軟件企業”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱號。產品具有際先的技術水平，X熒光光譜儀系列產品被認定為“家重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊，為環境保護與安、工業測試與分析及其它域提供業解決方案。江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本23088萬。旗下擁有北京邦鑫偉業技術開發有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家資子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。

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公司業從事光譜（ROHS檢測儀、X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、便攜式光譜儀、電感耦合等離子體光譜儀ICP）、色譜、質譜（氣相色譜質譜聯用儀GCMS、液相色譜質譜聯用儀LCMS、電感耦合等離子體質譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。

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該公司產品分類： EDX2000A 鉬錳層電鍍鎳測厚儀 rohs2.0環保測試儀 凹槽鍍金膜厚儀 ROHS2.0檢測儀器 ROHS2.0測試設備 ROHS2.0十項測試儀 歐盟rohs2.0分析儀 rohs2.0有機物測試儀 ROHS2.0檢測設備 鄰苯4P快速分析儀 ROHS十項檢測儀 X射線膜厚儀 ROHS新增四項檢測儀 手持式光譜分析儀 光譜鍍層測厚儀 手持式x熒光分析儀 不銹鋼檢測光譜儀 重金屬測試儀器icp X射線光譜測厚儀
熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑
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