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X熒光鍍層測厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

X-Strata960測厚儀基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
的大型測厚儀樣品室 - 更大的開槽式測厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
3種測厚儀樣品臺選項 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動范圍）/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動范圍）。
測厚儀內置PC用戶界面

技術參數

主要規格	規格描述
X射線激發和檢測	牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點鎢靶X射線管
X射線激發和檢測	高分辨封氣（Xe）正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果
數字脈沖處理	4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集（每秒計數量），從而的測量統計結果
手動或自動透鏡控制	手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
手動或自動透鏡控制	自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統的分析聚焦距離
自由距離測定	簡化系統設置和維護
	在聚焦距離范圍內僅需要一個校正
	對不規則樣品更靈活的測量
	在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點
	通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦	獨特的、自動樣品擺放系統
	激光掃描單鍵啟動
	消除樣品碰擊Z軸的機會
	改善DIM的聚焦過程
標準激光聚焦	標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響
	Z軸聚焦掃描單鍵啟動
	改善DIM和常規固定焦距測量時的聚焦過程
微小準直器	儀器至少裝備一個客戶指定規格的準直器以化測量，并提高測量效率
	備有各種規格準直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
	多準直器程序交換系統可同時安裝4個準直器
大樣品室設計	方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品
	大型開發式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品
	三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
	標準配置自動化Z軸：最大高度230mm
集成化計算機	工作站式設計：改善人機工程學、方便使用
	簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
	減少整機占用空間
	USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能
其他硬件特點	CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
	溫度補償功能監測系統溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩定性
	光譜校準、單擊鼠標執行系統性能自檢和校正程序儀器的穩定性
	堅實耐用的儀器設計適用于各種工業環境
	一體化工作站設計實現的人機

該公司產品分類：真空度計日本理音日本小野欣銳儀器德國Novi 德國百瑞高臺灣泰仕TES 德國德圖testo 美國雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希瑪SMART 德國QBL 意大利哈納HANNA 美國聯合系統美國ESC 美國斯德克韓國卡利安株式會社德國喜利得HILTI

CMI900CMI900(X熒光鍍層測厚儀)

詳細說明

CMI900鍍層測厚儀特點：

精度高、穩定性好
強大的數據統計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
全球服務及支持

技術參數

主要規格	規格描述
X射線激發系統	垂直上照式X射線光學系統
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統	最多可同時裝配6種規格的準直器
	多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
	在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm		XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統		高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
		激光自動對焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置		IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件		操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍		可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能		采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
		可檢測元素范圍：Ti22 – U92
		可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測，如Au karat評價
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調整和校正功能		系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
－測量自動化功能		鼠標激活測量模式：“PointShoot”
		多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
		測量位置預覽功能
		激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能		設定測量點
		連續多點測量
		測量位置預覽(圖表顯示)

－統計計算功能	平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
	數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
	數據庫存儲功能
	任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能	Z軸保護傳感器
	樣品室門開閉傳感器
	操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

行業

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。

應用

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

X-Strata960測厚儀基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
的大型測厚儀樣品室 - 更大的開槽式測厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
3種測厚儀樣品臺選項 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動范圍）/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動范圍）。
測厚儀內置PC用戶界面

技術參數

主要規格	規格描述
X射線激發和檢測	牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點鎢靶X射線管
X射線激發和檢測	高分辨封氣（Xe）正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果
數字脈沖處理	4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集（每秒計數量），從而的測量統計結果
手動或自動透鏡控制	手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
手動或自動透鏡控制	自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統的分析聚焦距離
自由距離測定	簡化系統設置和維護
	在聚焦距離范圍內僅需要一個校正
	對不規則樣品更靈活的測量
	在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點
	通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦	獨特的、自動樣品擺放系統
	激光掃描單鍵啟動
	消除樣品碰擊Z軸的機會
	改善DIM的聚焦過程
標準激光聚焦	標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響
	Z軸聚焦掃描單鍵啟動
	改善DIM和常規固定焦距測量時的聚焦過程
微小準直器	儀器至少裝備一個客戶指定規格的準直器以化測量，并提高測量效率
	備有各種規格準直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
	多準直器程序交換系統可同時安裝4個準直器
大樣品室設計	方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品
	大型開發式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品
	三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
	標準配置自動化Z軸：最大高度230mm
集成化計算機	工作站式設計：改善人機工程學、方便使用
	簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
	減少整機占用空間
	USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能
其他硬件特點	CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
	溫度補償功能監測系統溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩定性
	光譜校準、單擊鼠標執行系統性能自檢和校正程序儀器的穩定性
	堅實耐用的儀器設計適用于各種工業環境
	一體化工作站設計實現的人機工程學

該公司產品分類：紡織儀器工具記錄儀變送器儀器配件電源供應器溫度熱電偶空調檢測儀器農業檢測儀器表面測試儀器家居系列產品安規檢測儀器測繪檢測儀器建筑檢測儀器計量標定儀器通用檢測儀器電子電力工具水質分析儀器電力電工儀器警用安檢設備

X-Strata960X熒光鍍層測厚儀

基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間

l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。

l 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。

l 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。

l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。

l 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。

l 內置PC用戶界面　

技術參數

l X射線激發和檢測

牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管

高分辨封氣(Xe)正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果

l 數字脈沖處理

4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數量)，從而的測量統計結果

l 手動或自動透鏡控制

手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離

自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統的分析聚焦距離

l 自由距離測定

簡化系統設置和維護

在聚焦距離范圍內僅需要一個校正

對不規則樣品更靈活的測量

在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點

通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

l 附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦

獨特的、自動樣品擺放系統

激光掃描單鍵啟動

消除樣品碰擊Z軸的機會

改善DIM的聚焦過程

l 標準激光聚焦

標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響

Z軸聚焦掃描單鍵啟動

改善DIM和常規固定焦距測量時的聚焦過程

l 微小準直器

儀器至少裝備一個客戶指定規格的準直器以化測量，并提高測量效率

備有各種規格準直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用

多準直器程序交換系統可同時安裝4個準直器

l 大樣品室設計

方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品

大型開發式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品

三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺

標準配置自動化Z軸：最大高度230mm

l 集成化計算機

工作站式設計：改善人機工程學、方便使用

簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜

減少整機占用空間

USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能

l 其他硬件特點

CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測

溫度補償功能監測系統溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩定性

光譜校準、單擊鼠標執行系統性能自檢和校正程序儀器的穩定性

堅實耐用的儀器設計適用于各種工業環境

一體化工作站設計實現的人機工程學

該公司產品分類：超聲波測厚儀

X-Strata980X熒光鍍層測厚儀結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。X-Strata980X熒光鍍層測厚儀技術指標

100瓦X射線管
25mm²PIN 探測器
多準直器配置
掃描分析及元素分布成像功能
靈活運用多種分析模型
清晰顯示樣品合格/不合格
超大樣品艙
同時分析元素含量和鍍層厚度

CMI900X熒光鍍層測厚儀

CMI900 X熒光鍍層測厚儀

產品特點：

u 精度高、穩定性好

u 強大的數據統計、處理功能

u 測量范圍寬

u NIST認證的標準片

u 全球服務及支持

技術參數

主要規格	規格描述
X射線激發系統	垂直上照式X射線光學系統
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統	最多可同時裝配6種規格的準直器
	多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器）
	在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器）
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm		XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統		高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
		激光自動對焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置		IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件		操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍		可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能		采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
		可檢測元素范圍：Ti22 – U92
		可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測，如Au karat評價
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調整和校正功能		系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
－測量自動化功能		鼠標激活測量模式：“PointShoot”
		多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
		測量位置預覽功能
		激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能		設定測量點
		連續多點測量
		測量位置預覽（圖表顯示）
－統計計算功能		平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
		數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
		數據庫存儲功能
		任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能		Z軸保護傳感器
		樣品室門開閉傳感器
		操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

行業：

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。

應用：

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

該公司產品分類：產品介紹 JAZ系列光譜儀 NIR近紅外光譜儀 QE65000系列光譜儀 maya2000系列光譜儀 HR4000系列光譜儀 USB2000系列光譜儀海洋光學

900CMI900（X熒光鍍層測厚儀）

應用

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的

情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。

行業

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量。

主要規格規格描述

X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統最多可同時裝配6種規格的準直器

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

－樣品室結構開槽式樣品室

－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm還有5種規格任選

－Z軸程控移動高度 43.18mm

－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。

（50倍和100倍觀察系統任選。）激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92。可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析

－調整和校正功能系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移

－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能設定測量點，連續多點測量，測量位置預覽

－統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能

－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●全球服務及支持

980X熒光鍍層測厚儀ROHS檢測儀

主要規格規格描述

X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統最多可同時裝配6種規格的準直器

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

－樣品室結構開槽式樣品室

－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm還有5種規格任選

－Z軸程控移動高度 43.18mm

－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。

（50倍和100倍觀察系統任選。）激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92。可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析

－調整和校正功能系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移

－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能設定測量點，連續多點測量，測量位置預覽

－統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能

－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●全球服務及支持

湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石X熒光鍍層測厚儀CMI900

CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。高性能X射線熒光光譜儀快速精確的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素性能優化，測量元素范圍廣：可預設參數 CMI900 提供800多種預設應用參數/方法杰出的長期穩定性：自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正堅固耐用的設計可以在實驗室或生產線上操作堅固的工業設計經行業驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺

該公司產品分類：德國馬爾Mahr 粗糙度儀材料試驗無損測量光譜儀光度計圓度儀、粗糙度儀影像測量儀、投影儀顯微鏡三坐標測量機分析儀器長度計量光學儀器

x熒光鍍層測厚儀

x熒光鍍層測厚儀產品應用：

（1）電子行業：有效控制生產過程，提高生產力，分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。

（2）五金電鍍行業：電鍍表面處理的成本最小化，產量最大化，多樣品和多點分析，單層或多層厚度測量，鍍液成份分析。

（3）貴金屬/金屬合金：珠寶及其他合金的快速無損分析，黃金分析及其他元素測定，金屬合金檢測。

（4）一致性檢測：確保產品符合規格測定有害物質從ppm級到高百分比級。

（5）有毒元素定量分析：例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規定，按照IEC62321進行RoHS篩選。對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測。

（6）新能源行業：確保產品有效一致，光電池薄膜吸收層（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通過鍍層厚度分析優化導電性。

x熒光鍍層測厚儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態時的厚度，這樣會和冷態時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態時保持一致。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持一致。

x熒光鍍層測厚儀精密度測試，精密度表示對同一個對象進行多次測量，表征測試結果分散程度的物理量，它是一個與多次測試數據的標準偏差有關的物理量。目前，對一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數據的標準偏差求解問題的研究已經相當成熟，對測量設備精密度的研究可以轉化為對測量設備測試數據標準偏差的求解。使用成熟的數據處理方法研究比較新的高精度設備的精密度是一種簡單可行而又科學的方法。

聯系人: 舒翠

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郵箱: sc@kinglinhk.net

地址: 寶安區沙井北環大道110號新橋綜合大樓502

該公司產品分類：膜厚儀

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X熒光鍍層測厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

CMI900CMI900(X熒光鍍層測厚儀)

X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

X-Strata960X熒光鍍層測厚儀

X-Strata980X熒光鍍層測厚儀

CMI900X熒光鍍層測厚儀

900CMI900（X熒光鍍層測厚儀）

980X熒光鍍層測厚儀ROHS檢測儀

湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石X熒光鍍層測厚儀CMI900

x熒光鍍層測厚儀

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