XR-306能量色散X熒光光譜儀
當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為馳豫過(guò)程。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱(chēng)為俄歇效應(yīng)，亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)，所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無(wú)關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，X射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線(xiàn)，稱(chēng)為K系譜線(xiàn)：由L層躍遷到K層輻射的X射線(xiàn)叫Kα射線(xiàn),由M層躍遷到K層輻射的X射線(xiàn)叫Kβ射線(xiàn)……。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線(xiàn)使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時(shí)就有能量ΔE釋放出來(lái)，且ΔE=EK-EL，這個(gè)能量是以X射線(xiàn)形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線(xiàn)，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線(xiàn) ，L系射線(xiàn)等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。
（二）XR-306能量色散X熒光光譜儀特點(diǎn)
1.無(wú)需制樣即可直接測(cè)量.
2. 所有元素可以同時(shí)測(cè)量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應(yīng)付大批量待測(cè)樣品.
3. 檢出限低,可以滿(mǎn)足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無(wú)損分析. 分析樣品不被破壞，分析快速，，便于自動(dòng)化。
5. 沒(méi)有人為誤差,誰(shuí)操作都得到一樣的結(jié)果.
6. 操作簡(jiǎn)單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣，從Na到U均可測(cè)定；
8.熒光X射線(xiàn)譜線(xiàn)簡(jiǎn)單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡(jiǎn)便；
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí)，
10、連續(xù)測(cè)試重復(fù)性極強(qiáng)，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定
（三）能量色散光譜分析儀與波長(zhǎng)色散光譜分析儀的區(qū)別
能量色散分析儀只有一個(gè)探測(cè)器，它對(duì)測(cè)量Ｘ射線(xiàn)能量范圍是不受限制的，而且這個(gè)探測(cè)器能同時(shí)測(cè)量到所有能量的Ｘ射線(xiàn)。也就是說(shuō)只要激發(fā)樣品的Ｘ射線(xiàn)的能量和強(qiáng)度能滿(mǎn)足激發(fā)所測(cè)樣品的條件，對(duì)一組分析的元素都能同時(shí)測(cè)量出來(lái)。一般有以下三種基本類(lèi)型的探測(cè)器可用于測(cè)量Ｘ射線(xiàn)：密封式或流氣式充氣探測(cè)器、閃爍探測(cè)器、半導(dǎo)體探測(cè)器。
能量色散的條件是當(dāng)樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的Ｘ射線(xiàn)通過(guò)窗口進(jìn)入探測(cè)器探測(cè)器把Ｘ射線(xiàn)能量轉(zhuǎn)換成電荷脈沖，每個(gè)Ｘ射線(xiàn)光子在探測(cè)器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉(zhuǎn)換成電壓脈沖，當(dāng)這些電壓脈沖經(jīng)充分放大后，被送入脈沖處理器，脈沖處理器把這些代表著各個(gè)元素的模擬信號(hào)再轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號(hào)，由計(jì)算機(jī)進(jìn)行分類(lèi)，分別存入多道分析器（ＭＣＡ）的相應(yīng)通道內(nèi)，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。這些通道覆蓋了分析的整個(gè)能量范圍。
波長(zhǎng)色散分析儀是用多個(gè)衍射晶體分開(kāi)待測(cè)樣品中各元素的波長(zhǎng)，由此對(duì)元素進(jìn)行測(cè)量。晶體被安裝在適當(dāng)位置，以滿(mǎn)足布拉格定律的要求。 Ｘ射線(xiàn)熒光分析和其它光譜分析一樣，也是一種相對(duì)分析。這就是說(shuō)，要有一套參考標(biāo)樣，這些參考標(biāo)樣能夠在可能感興趣的范圍內(nèi)覆蓋所測(cè)元素。首先對(duì)這些標(biāo)樣進(jìn)行測(cè)量，記錄欲分析元素的強(qiáng)度，建立濃度（含量）、強(qiáng)度（ＣＰＳ）校準(zhǔn)曲線(xiàn)，存入處理數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)，供以后分析同一類(lèi)型未知樣品時(shí)使用。 最簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)線(xiàn)是直線(xiàn)，強(qiáng)度與濃度的依賴(lài)關(guān)系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準(zhǔn)線(xiàn)要在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)使用，所以應(yīng)對(duì)儀器的漂移作出調(diào)整，盡管這種漂移不大，但它確實(shí)存在。這可以通過(guò)對(duì)每個(gè)分析元素選用高、低兩個(gè)參考點(diǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)。制備若干被稱(chēng)作ＳＵＳ（調(diào)整樣）的特殊樣品，它們含有適量的分析元素，有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強(qiáng)度值。
產(chǎn)品規(guī)格：
名 稱(chēng) | X熒光光譜儀 |
型 號(hào) | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線(xiàn)熒光分析法 |
分析元素 | Na ～U任意元素, 鉛（Pb）、鎘(Cd)、汞（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）中的溴。 |
技術(shù)指標(biāo) | 檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀 樣品類(lèi)型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線(xiàn)管：靶材/Mo 管電壓/5～50 kV 管電流/最大1～1000 μA 照射直徑：2、5、8mm 探測(cè)器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器 濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇 樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配） 樣品觀(guān)察：30倍彩色CCD攝像機(jī) 微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件 定量分析：理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 數(shù)據(jù)處理：IMB PC/AT/內(nèi)存/256 MB 以上/硬盤(pán)/40 GB 以上 系統(tǒng)：Windows XP正版 功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 標(biāo)準(zhǔn)配置：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時(shí)) 高壓電源（RSD<0.25%） 大樣品倉(cāng) 高精密攝像機(jī)(130萬(wàn)像素) Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件 計(jì)算機(jī)(P4品牌機(jī)) 打印機(jī)（愛(ài)普生彩色噴墨打印機(jī)） 測(cè)試用樣品杯2個(gè)，測(cè)試用塑料薄膜數(shù)張 標(biāo) 樣：歐盟EC681一片、銀校正標(biāo)樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺(tái) |
工作條件 | 工作溫度：10-30℃ 相對(duì)濕度：≤70% 電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
EDX1800Bx熒光光譜儀臺(tái)式智能有害元素檢測(cè)儀
ATR FTIR PROBE探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀
ATR FTIR PROBE探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀
晶格碼獨(dú)有的探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀是利用紅外線(xiàn)光譜經(jīng)傅立葉變換進(jìn)而能夠分析樣品濃度的在線(xiàn)光譜分析儀。該產(chǎn)品的光纖探頭將FTIR變成了一個(gè)真正的原位測(cè)量?jī)x器，讓您實(shí)現(xiàn)之前無(wú)法達(dá)成的常規(guī)FTIR分析。利用我們獨(dú)特的光纜設(shè)計(jì)，可以將FTIR用于一個(gè)傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室規(guī)模的反應(yīng)容器，或是自動(dòng)化的實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器中。
系統(tǒng)所配備的光纖探頭采用專(zhuān)利技術(shù)，將紅外發(fā)射光纖束與一個(gè)全反射晶體相結(jié)合，對(duì)液體和半液體樣品進(jìn)行分析，或者是將紅外發(fā)射光纖束和專(zhuān)門(mén)的透射或反射式探頭結(jié)合在一起，對(duì)氣體、液體和固體樣品進(jìn)行分析。
實(shí)時(shí)反應(yīng)監(jiān)控軟件
- 具有實(shí)時(shí)3D顯示和趨勢(shì)線(xiàn)功能
- 完全匹配和控制光譜儀
- 全功能光譜軟件，包括3D繪圖、曲線(xiàn)擬合等常用功能，以及許多其他附加功能。
技術(shù)指標(biāo)
- 光譜范圍：5000 cm-1~900 cm-1
- 探測(cè)溫度范圍：根據(jù)客戶(hù)需求定制
- 探管直徑：詳見(jiàn)下表各種探頭的參數(shù)配置
- 探頭長(zhǎng)度：根據(jù)客戶(hù)需求定制
- 壓力：根據(jù)客戶(hù)需求定制1~＞200 bar
- 材料：耐腐蝕不銹鋼、哈氏合金;對(duì)于不同的使用環(huán)境，可以用不同的探頭材料
性能特征
- 獨(dú)特的光纜設(shè)計(jì)，可在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室規(guī)模的反應(yīng)器中或ALR（自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器）內(nèi)使用
- 該系統(tǒng)的一個(gè)獨(dú)特之處是可用的液體透射式探頭，其可變化光程從幾微米到約6毫米。多種探頭可選（高/低溫，高壓）
- 探頭材料和長(zhǎng)度可根據(jù)客戶(hù)要求定制
- 耐腐蝕探頭可在惡劣的環(huán)境中工作
光纖光譜儀
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
u 寬的光譜測(cè)量范圍185-1100nm
u 專(zhuān)用的測(cè)量紫外、可見(jiàn)、近紅外和紅外波段的光譜儀
u 高品質(zhì)光譜分辨率，最高可達(dá)0.03nm
u 可同時(shí)完成光譜波長(zhǎng)與強(qiáng)度分布測(cè)量，吸光度測(cè)量，色品坐標(biāo)和顏色測(cè)量
u 精巧的外觀(guān)設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)均采用通用標(biāo)準(zhǔn)接口
u 豐富的可選配件，光源、光纖、CCD探頭
u 無(wú)需外接電源，USB直接供電，工作穩(wěn)定
軟件優(yōu)勢(shì)
l 采用USB接口，全面支持Win7系統(tǒng)
l 軟件自動(dòng)識(shí)別、連接功能，通訊方便，能同時(shí)連接多臺(tái)光譜儀器
l 集成多種光譜分析模塊（光譜波長(zhǎng)、強(qiáng)度分布測(cè)量、吸光度測(cè)量、色品坐標(biāo)、
顏色測(cè)量等）
l 提供多種樣品光譜（標(biāo)準(zhǔn)光源光譜/太陽(yáng)光光譜/氘燈光譜/汞燈光譜/各類(lèi)
LED光譜/高低色溫節(jié)能燈光譜；各種玻璃片的吸光度光譜）
l 方便快捷的數(shù)據(jù)處理功能（將光譜數(shù)據(jù)與圖像導(dǎo)入到Excel、TXT文件中，
同時(shí)可保存為*.pdf *.bmp等文件）
l 便捷的智能曝光時(shí)間功能
l 具有光譜錄像功能
| 型號(hào) | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
| 有效波長(zhǎng)范圍 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
| 應(yīng)用 | 可見(jiàn)波段測(cè)量 | 紫外波段測(cè)量 | 紫外、可見(jiàn)、紅外測(cè)量 |
| 最高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
| 波長(zhǎng)重復(fù)誤差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
| 探測(cè)器（CCD） | 2048單元線(xiàn)陣硅CCD | 3648單元線(xiàn)陣硅CCD | 3648單元線(xiàn)陣硅CCD |
| 狹縫寬度 | 30μm | 30μm | 30μm |
| 光柵 | 600線(xiàn)@450nm | 600線(xiàn)@250nm | 600線(xiàn)@250nm |
UX-300X熒光光譜儀
深圳市華唯計(jì)量技術(shù)開(kāi)發(fā)有限（UniqueMetricalTechnology Development Co. ，Ltd. Shenzhen ）是中國(guó)最大的，專(zhuān)業(yè)制造、生產(chǎn)和銷(xiāo)售X熒光分析儀器的高新技術(shù)企業(yè)聯(lián)盟成員。擁有國(guó)內(nèi)的X熒光分析技術(shù)領(lǐng)域的專(zhuān)家隊(duì)伍（國(guó)家X熒光光譜儀“七五”“九五”攻關(guān)項(xiàng)目絕大部分核心成員），是集產(chǎn)品設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)、制造、銷(xiāo)售及服務(wù)為一體的科技實(shí)體，在X熒光分析儀項(xiàng)目上，產(chǎn)品包括波長(zhǎng)色散X熒光分析儀和能量色散X熒光分析儀兩大系列。同時(shí)，公司與國(guó)內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)研究院所保持著密切的合作關(guān)系，實(shí)時(shí)追蹤國(guó)際X熒光分析領(lǐng)域最前沿的理論和技術(shù)，也是目前中國(guó)專(zhuān)業(yè)化生產(chǎn)波長(zhǎng)色散X熒光分析儀的企業(yè)聯(lián)盟成員。 UX系列能量色散X熒光分析儀、 BX系列波長(zhǎng)色散X熒光分析儀是我們總結(jié)我國(guó)多年來(lái)研制該類(lèi)型儀器的經(jīng)驗(yàn)和教訓(xùn), 并吸收國(guó)際技術(shù)基礎(chǔ)上，深入進(jìn)行產(chǎn)業(yè)化研發(fā)形成的高科技產(chǎn)品，各項(xiàng)技術(shù)性能指標(biāo)均已達(dá)到國(guó)際同類(lèi)產(chǎn)品水平。
3600x熒光光譜儀
本公司是專(zhuān)業(yè)從事各種環(huán)境實(shí)驗(yàn)設(shè)備、測(cè)試儀器、品質(zhì)檢測(cè)、生產(chǎn)過(guò)程、校驗(yàn)校準(zhǔn)等儀器設(shè)備，以及高科技企業(yè)開(kāi)發(fā)生產(chǎn)、維修所必需的焊接等配套工具的開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售及后服務(wù)，對(duì)外承接非標(biāo)工程，非標(biāo)產(chǎn)品的訂做、必制、維修等業(yè)務(wù)。現(xiàn)將部分介紹如下，如有需求，歡迎來(lái)電來(lái)涵查詢(xún)。
一、拉力強(qiáng)度：萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)設(shè)備
微機(jī)控制萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、經(jīng)濟(jì)型萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、智能電子拉力試機(jī)、微電腦拉力試驗(yàn)機(jī)、桌上型（雙桿）電動(dòng)拉力機(jī)等多種材料拉力試驗(yàn)機(jī)。
二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：
換氣式老化試驗(yàn)機(jī)、可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱（三槽式設(shè)置）、臭氧老化箱、紫外燈耐候試驗(yàn)機(jī)、鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)、淋雨試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)機(jī)、砂塵試驗(yàn)箱、標(biāo)準(zhǔn)光源箱等各種環(huán)保試驗(yàn)設(shè)備。
三、紙箱、包裝、家私試驗(yàn)機(jī)系列。
電腦紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī)、破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)（有指針式、電子式），單臂跌落試驗(yàn)臺(tái)、雙臂跌落試驗(yàn)臺(tái)（專(zhuān)門(mén)測(cè)試產(chǎn)品包裝后墜落受到損害情況）、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，微電腦振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，模擬汽車(chē)運(yùn)輸振動(dòng)度過(guò)臺(tái)，辦公椅系列試驗(yàn)機(jī)，等各種包裝運(yùn)輸檢測(cè)設(shè)備。
四、電腦、手機(jī)試驗(yàn)機(jī)系列、電工器材試驗(yàn)系列。
轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)、微電腦轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)、按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)、耐磨擦試驗(yàn)機(jī)、全自動(dòng)扭力試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)跌落試驗(yàn)臺(tái)、紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、各種插頭、插座試驗(yàn)機(jī)等一系列電工器材試驗(yàn)設(shè)備。
五、橡膠、塑膠、膠帶試驗(yàn)系列橡膠膠磨試驗(yàn)機(jī)、磨耗試驗(yàn)機(jī)、耐磨試驗(yàn)機(jī)、耐折試驗(yàn)機(jī)、泡棉壓縮應(yīng)力試驗(yàn)機(jī)、發(fā)泡塑反復(fù)壓縮試驗(yàn)機(jī)、試料磨平機(jī)、塑膠熔融指數(shù)測(cè)定機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)、加熱變形溫度試驗(yàn)機(jī)、落球沖擊試驗(yàn)機(jī)、硬質(zhì)塑膠落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)、塑膠膜落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)、高溫灰化爐、恒溫膠帶保持力試驗(yàn)機(jī)、膠帶保持力試驗(yàn)機(jī)、膠帶初粘性滾球試驗(yàn)機(jī)、色差儀、工業(yè)投影儀、三座標(biāo)測(cè)量?jī)x。
六、基礎(chǔ)電子測(cè)試儀器。
七、力光學(xué)、量具、儀表、衡器、靜電系列。
注：凡屬于本公司所售之儀器，在非人為損害情況下，保修一年，終身維護(hù)ICP-OES電感耦合等離子原子發(fā)射光譜儀
Spectro MAXxSpectro 直讀光譜儀
電感耦合等離子原子發(fā)射光譜儀
CS-P2000便攜式光譜儀
手持式礦石金屬分析儀也稱(chēng)便攜式金屬分析儀、礦石元素分析儀等，，“手持式能量色散分析儀，是為野外、現(xiàn)場(chǎng)X熒光分析應(yīng)用專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。具有體積小、重量輕、普通人可手持測(cè)量的特點(diǎn)。它包括礦石分析儀、有害元素分析儀，合號(hào)分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀等一系列專(zhuān)業(yè)型號(hào)，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應(yīng)用于各類(lèi)地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測(cè)樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉靠的防火墻；小巧輕便，將人性化理念落實(shí)入微。
性能特點(diǎn)
1. 采用小功率端窗一體化微型光管，功耗小、激發(fā)效率高，結(jié)合使用大面積鈹窗電致冷Si-PIN探測(cè)器，使該手持式
儀器具有與臺(tái)式機(jī)相近的地質(zhì)礦樣測(cè)試性能。
2. 體積小、便攜，方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。
3.采用高分辨率（640*480）PDA作主機(jī)，結(jié)合無(wú)線(xiàn)藍(lán)牙通訊的微型多道分析器專(zhuān)利技術(shù)，儀器使用方便靈活，在
任何環(huán)境中，測(cè)試數(shù)據(jù)都盡在掌中。
4 .儀器既可手持進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用座立式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試。
5 .儀器防水防塵，可在高溫高濕環(huán)境下連續(xù)使用，其保護(hù)箱采用高強(qiáng)度軍工用品設(shè)計(jì)，有良好的防潮防震防壓三防功能。
6. 專(zhuān)業(yè)軟件，針對(duì)地質(zhì)礦樣元素檢測(cè)的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、操作簡(jiǎn)易，對(duì)操作人員限制很小的
特點(diǎn)。
7 .礦樣類(lèi)別的快速識(shí)別，多元素自動(dòng)定性定量分析以及多種礦樣模式選擇和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校
正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
8 .一塊電池可使用4小時(shí)，三塊原裝電池裝配，可選配太陽(yáng)能充電器或車(chē)載式充電器，隨時(shí)隨地進(jìn)行測(cè)試。
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)：EDX-P730手持式能量色散礦石及金屬分析儀
探測(cè)器：13mm2電致冷Si-PIN探測(cè)器
激發(fā)源：40KV/50uA-銀靶端窗一體化微型X光管
檢測(cè)時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測(cè)試）
檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末
檢測(cè)范圍：S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb, Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,S等。Au硫（S）到鈾（U）之間所有元素
可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素
元素檢出限：0.001%～0.01%
校正方式：銀（Ag）
安全性：自帶密碼管理員模式，非授權(quán)人員無(wú)法使用
Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行
保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡
電源：兩塊鋰電池滿(mǎn)電可連續(xù)工作8小時(shí)
儀器重量：1.35 Kg
環(huán)境溫度：-20℃－＋50℃；，環(huán)境濕度：不高于85％
儀器配置
PDA / Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器/放大電路/ X光管及高低壓電源
PDA版檢測(cè)礦樣元素專(zhuān)用分析軟件/實(shí)驗(yàn)室測(cè)試支架（選配）
110V/220V通用充電器;兩塊4000mAh鋰電池、鋰電池充電器
超大容量SD存儲(chǔ)卡，SD卡讀卡器/抗沖擊、耐壓、帶鎖的防水手提箱
核心應(yīng)用領(lǐng)域，地質(zhì)礦物勘探、普查
野外巖石、土壤、沉積物和礦石的原位檢測(cè)，礦山礦石分布圖的繪制，洗礦過(guò)程中原礦、精礦和尾礦的檢測(cè)，原礦和精礦采購(gòu)中礦石品位的測(cè)定
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