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二手鍍層膜厚儀 美國鍍層膜厚儀 美國膜厚測量儀

二手X射線金屬鍍層測厚儀
日本精工電子有限公司研發出全球臺熒光X-射線鍍層厚度測量儀. 經過20多年的努力, 現在的熒光X-射線鍍層厚度測量儀能夠的測量微小面積的鍍層厚度。已被全世界電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產品生產及相關廠商廣泛使用和。
a. 日本精工SFT157 X射線金屬鍍層測厚儀
8萬元RMB（不含稅）經濟型
七成新－－-日本原裝進口.適用于五金、電鍍、電子、手表、電路板等鍍層測量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測量，測量部位可精確指定。保修三個月，廣東省內包送貨安裝。此型號測厚儀還可以低價出租，租費實惠，按月計算。
b. 日本精工SFT7000 X射線金屬鍍層測厚儀
10萬元RMB（不含稅）中級型
七成新－－-日本原裝進口. 適用于五金、電鍍、電子、手表、電路板等鍍層測量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測量，保修三個月,廣東省內包送貨安裝。
c. 日本精工SFT3000 X射線金屬鍍層測厚儀
16萬元RMB（不含稅）型
八成新－－-日本原裝進口. 適用于五金、電鍍、電子、手表、電路板等鍍層測量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測量，采用高速樣品臺可高精度的檢測微小樣品。保修半年,廣東省內包送貨安裝。
d. 美國VEECO XRF5000 X射線金屬鍍層測厚儀
15萬人民幣（不含稅）超值型
八成新－－-美國原裝進口.全視窗95直接執行可使用文書處理軟件方便打印測量報告;測試系統可由鼠標在顯示屏上直接控制，非一般牌子只能局部控制;可測量不同單/雙金屬鍍層厚度,可測涂層厚度,可做電鍍藥液金屬含量分析;保修三個月,廣東省內包送貨安裝。
還有德國，韓國，美國三大品牌的X射線金屬鍍層測厚儀
 
多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業，科研機構，半導體生產等電子行業提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意，為客戶創造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖！
 

歡迎咨詢洽談13424255969

膜厚測量儀

膜厚測量儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態時的厚度，這樣會和冷態時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態時保持一致。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持一致。
膜厚測量儀精密度測試，精密度表示對同一個對象進行多次測量，表征測試結果分散程度的物理量，它是一個與多次測試數據的標準偏差有關的物理量。目前，對一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數據的標準偏差求解問題的研究已經相當成熟，對測量設備精密度的研究可以轉化為對測量設備測試數據標準偏差的求解。使用成熟的數據處理方法研究比較新的高精度設備的精密度是一種簡單可行而又科學的方法。
膜厚測量儀應用領域： 
　BOWMAN—BA 100是一款經濟、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀。
  適用于： 
　五金、接插件、電氣連接器電鍍，PCB電鍍，塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍；含量普通的合金材料分析。鍍液分析。 
　檢測電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等鍍層厚度。 
　PCB電鍍Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等。 
　塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。 
　合金材料分析。 
　不銹鋼中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分。 
　黃銅中的Cu、Zn、Pb等成分。 
　磷銅中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分。 
　焊錫中的Sn、Pb等成分。 
　電鍍液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主鹽的濃度。
聯系人: 舒翠 
手機:  13602568074
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郵箱:  sc@kinglinhk.net 
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該公司產品分類： 膜厚儀

電鍍層膜厚測量儀 電鍍層膜厚化驗儀器 鍍層厚度檢測儀 測膜儀器

產品說明、技術參數及配置
儀器介紹Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護技術指標型號：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機應用領域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
天瑞儀器優勢
一、品牌
天瑞在1992年研發出了中國臺能量色散X射線熒光光譜儀，至今已經有25年以上經驗積累，目前是國內一家真正有實力自主研發光譜儀及上市的公司，目前公司市值已超百億，在全國擁有多家子公司，團隊規模達3000人，成為中國乃至世界檢測分析行業的引領者和知名品牌。
二、軟硬件
1天瑞每年耗巨資研發軟件，對所有客戶軟件終身免費升級，做到時時跟進歐盟環保指令，讓客戶買的儀器終生不過時。
 2天瑞儀器的主要三大核心配件均來自美國進口，天瑞嚴格杜絕利用翻新配件和國產劣質配件，在業內樹立了誠信經營的企業形象。
三、客戶
天瑞儀器在環保測試領域占據80%以上的市場份額，得到了絕大客戶的，是三星，華為，創維，格力，美的，富士康等大型企業的測試儀。
四、儀器精度
天瑞儀器創始人是原清華大學核物理研究院劉博士，他掌握了世界的光譜、質譜、色譜三大核心技術，對產品要求精益求精，把儀器的度管制在99.99%，檢出限可達1ppm，重復穩定性達到0.1%以內，在同行相比天瑞技術。
五、售后服務
天瑞儀器在全國各省市建立了完善的服務網點，為所有的客戶服務做到及時周到，售后服務2小時內響應，并上門快速解決問題，提供儀器終身維護保養。 （與天瑞大公司，大品牌合作沒有后顧之憂，我們讓客戶買的放心、用的安心。天瑞為您的企業發展之路保駕護航！）
該公司產品分類： 原子吸收分光光度計 AAS 原子熒光光譜儀 AFS 光電直讀光譜儀 OES 等離子體發射光譜儀 ICP 飛行時間質譜聯用儀 iTOFMS 電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS 液相色譜質譜聯用儀 LC-MS 氣相色譜質譜聯用儀 GC-MS 波長色散X熒光光譜儀 WDX 能量色散X熒光光譜儀 XRF 電子電器 玩具檢測儀器 金屬合金 鋼鐵 汽車檢測 銅合金檢測儀器 ROHS環保檢測儀 高效液相色譜儀 鍍層測厚儀器 液相色譜儀

齊全膜厚測量儀

 產品 >> 光譜測試儀器 >> 膜厚測量儀   共有 2 個產品
 

 
 
 
  
 
 
名稱: 薄膜測量
編號: 4716154916
 
 
 
 
  
 
 
名稱: NanoCalc反射法納米測厚儀
編號: 4716132916
 

【激光系列產品】 固體激光器  半導體激光器  氣體激光器  氬離子激光器  光纖激光器  大功率光纖耦合激光器  皮秒激光器  飛秒激光器  調Q脈沖激光器  激光二極管控制器  激光功率計  激光護目鏡  激光波長測量  激光光束分析儀  多通道激光功率計  大功率激光器  激光光束位置測量儀  激光擴束鏡  激光準直器  紅外激光顯示卡  紅外激光觀察儀  紅外觀察儀  激光測距儀  激光器溫度控制器  激光光纖耦合器  高穩定性激光器  相干型激光器  自相關儀  飛秒激光倍頻器  可變光闌  便攜式激光器  染料激光器  激光光譜測量  熱電制冷片  激光光束定位系統  視頻顯微鏡測量系統  2微米光纖激光器  飛秒光纖激光器  皮秒光纖激光器  脈沖光纖激光器  光纖隔離器  拉曼激光器  光功率計  飛秒激光脈沖自相關儀  激光二極管參數分析儀  激光二極管電流控制器 【光譜測試儀器】 光纖光譜儀  微型光纖光譜儀  高分辨率光譜儀  高靈敏度光譜儀  制冷型光譜儀  中紅外光譜儀  熒光光譜儀  拉曼光譜儀  極紫外光譜儀  真空紫外光譜儀  多通道光譜儀  教學型光譜儀  LED光測量光譜儀  色坐標色溫測量儀  燈具光譜測量儀  透射譜吸光度光譜儀  絕對輻射光譜儀  流體吸光度光譜儀  流體熒光光譜儀  膜厚測量儀  橢偏儀  太陽能電池IPCE測量系統  太陽能電池QE測量系統  太陽能電池光譜響應系統  單色儀  濾光片輪  濾光片透射率測試儀  太赫茲光譜儀  等離子體光譜儀  環境輻射儀  近紅外光譜儀  元素分析儀  氧含量測量  信號發生器  近紅外谷物接收系統  顆粒分析儀  熒光壽命光譜儀  三維表面輪廓儀  微型光譜儀 【光學精密機械】 干涉儀  光學平臺  光學鏡架  手動平移臺  手動旋轉臺  手動擺動臺  手動組合平臺  電動平移臺  電動轉動臺  電動擺動平臺  電動組合平臺  壓電陶瓷平臺  壓電陶瓷制動器  高穩定防震平臺 【光源】 氙燈光源  氘燈光源  氘鹵雙光源  LED光源燈  鹵素燈光源  光催化氙燈光源  積分球  積分球均勻光源  太陽模擬器  紫外固化機  寬帶超連續光源  顯微鏡光源 【光學影像】 紫外CCD相機  近紅外CCD相機  制冷型CCD相機  高速相機  夜視儀  顯微鏡  CID相機  熱像儀 【探測器】 照度計  亮度計  輻射計  便攜式色差計  太陽光功率計  快速反應探測器  前置放大探測器  光纖耦合探測器  液氮制冷探測器  皮秒超快探測器  位敏探測器  四象限探測器  雙色探測器  紫外輻照計  硅光電探測器  近紅外探測器  中紅外探測器  雪崩二極管  光電倍增管 【光學元件】 窗片/窗口  反射鏡  透鏡  光學基片  分光鏡  棱鏡  晶體  濾光片  波長板  擴散板  起偏器  光學鏡頭  光纖產品  光柵尺  紅外鏡頭  光柵 【光通信儀器】 ASE光源  光接收機  光纖放大器  光發射機  光通信激光器  光功率計  可調諧激光光源  光纖測量系統  光衰減器  光纖熔接機  光通信探測器  光調制器  傳感器解調儀  SLED光源  SLED模塊  多波段SLED光源  大功率EDFA  光收發機  激光發射機  拉曼EDFA組合放大器  拉曼泵浦模塊  偏振光合束器  拉曼放大器  保偏EDFA  摻鐿光纖放大器  摻鐿光纖放大器模塊  半導體光放大器  大功率光纖放大器  光接收機模塊  半導體光放大器模塊  40通道多路復用器  1064nm穩定的激光器光源  DWDM多路復用器  FBG光纖耦合激光器光源  FBG激光光源模塊  波長掃描激光器  單模背射儀  電控可變光衰減器  多波長儀  多通道可變光衰減器  光波元器件分析儀  光放大器分析儀  光網絡測試儀  光網絡分析儀  光纖干涉儀  回波損耗儀系統  可調諧光濾波器  色散補償模塊  微型光時域反射儀  蝶形激光器/DFB激光器  大功率蝶形激光器  寬帶RF放大器模塊  寬帶RF放大器  DFB蝶形激光器  DFB激光器模塊  DWDM光分插模塊  980nm泵浦激光器  ASE光源模塊  C＋L波段ASE光源  CWDM 2mW DFB激光器  F-P激光器  保偏隔離器  大功率保偏隔離器  大功率光隔離器  光隔離器  光開關模塊  可調諧C波段激光器  外調制激光器  拉曼放大器泵浦激光器/EDFA泵浦激光器  便攜式光時域反射儀 【生物分析儀器】 動物注射泵  樣品均質器  粘合劑分配器  蠕動泵  搖擺振蕩器  細胞分離/勻漿漩渦混合器  

X射線熒光膜厚測量儀SFT-110 供應

　近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現微區下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。

　對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。 　　為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。

特點 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 　 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 以的設計實現微小區域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 無標樣測量！ 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置！ 通過廣域觀察系統，能夠從畫面上的樣品整體圖（最大250×200mm）中方便地指定測量位置

測量元素:原子序號22（Ti）～83（Bi） X射線源:空冷式小型X射線管 檢測器:比例計數管 準直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2種 樣品觀察:CCD攝像頭（可進行廣域觀察） 對焦:激光點（自動） 濾波器：一次濾波器： 自動切換 樣品臺（臺式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移動量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:電腦、19寸液晶 測量軟件:薄膜FP法 （最多5層膜、10種元素）、標準曲線法 數據處理:配備有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全機構:樣品門連鎖、樣品的防沖撞功能、儀器診斷功能

該公司產品分類： EO滅菌柜 環氧乙烷滅菌器 頂空氣相色譜 紫外可見分光光度計 環氧乙烷殘留量檢測儀 環氧乙烷滅菌柜 環氧乙烷滅菌器 儀器租賃 泰斯肯掃描電鏡 萊伯泰科 電感銷售 海光儀器 二手儀器回收 二手儀器銷售 二手儀器銷售和回收 儀器維修保養 賽默飛世爾（熱電） 韓國賽可儀器 瑞士萬通儀器 日本精工儀器

ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000光學膜厚測量儀

1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。 3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。4) 可測量 3層以內的多層膜。5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ ) 8)Table Top型, 適用于大學,研究室等
該公司產品分類： 水質分析儀/多參數水質分析儀 其它基礎儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

CMI700膜厚測量儀

CMI760測厚儀配置包括：
  • CMI760測厚儀主機
  • SRP-4探頭
  • SRP-4探頭替換用探針模塊（1個）
  • NIST認證的校驗用標準片
CMI760測厚儀選配配件：
  • ETP探頭
  • TRP探頭
  • SRG軟件

 
 
技術參數

 

SRP-4面銅探頭測試技術參數：
銅厚測量范圍：
化學銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
 
度：±1% (±0.1 μm)參考標準片
精確度：化學銅：標準差0.2 %；電鍍銅：標準差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
 
 
ETP孔銅探頭測試技術參數：
可測試最小孔直徑：35 mils (899 μm)
測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規定
 
度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精確度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0% （實驗室情況下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm)
 
 
TRP-M（微孔）探頭測試技術參數：
最小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
孔內銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
最大可測試板厚：175mil （4445 μm）
最小可測試板厚：板厚的最小值必須比所對應測試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm)
 
度（對比金相檢測法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
精確度：不建議對同一孔進行多次測試
分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

無損膜厚測量儀

CMI900 無損電鍍 膜厚測試儀，鍍層測厚儀 專業測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業內廣受好評，客戶應

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工程師經驗豐富，商業合作個方式靈活。

金屬鍍層厚度測量， 例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金（兩樣金屬元素）鍍層厚度測量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP（無電浸鎳）在Fe上等 合金（三檬金屬元素）鍍層厚度測量，  例如：  AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量（其中一層是合金層），  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等 三鍍層，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業 gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu  ~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常見應用

儀器介紹CMI 900  系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域

，為產品質量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領先于世界，精確到0。025um  （相對與標準片）C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

該公司產品分類： 光譜儀 膜厚測試儀

ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000光學膜厚測量儀

1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。 3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。4) 可測量 3層以內的多層膜。5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ ) 8)Table Top型, 適用于大學,研究室等
該公司產品分類： 恒流泵 恒壓恒流進樣泵 微流控

OSPrey800膜厚測量儀

OSPrey800@儀器利用光譜分析原理無損檢測OSP鍍層厚度。無需準備樣品，可實時檢測實際產品上的OSP鍍層厚度。

OSPrey800@儀器在檢測過程中不會對PCB/PWB板產生不利影響。通過進行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的定量、完整性、性及膜層形態的細致分析，進而檢驗OSP鍍層的應用性。

檢測可在OSP鍍層的生命周期的不同階段進行，使用戶可以通過監控OSP鍍層形成和儲藏過程中產生的不良變化對工藝進行必要的調整。例如，可以在PCB/PWB生命周期的不同階段檢測OSP鍍層的厚度以預測在后續的工藝過程中由于OSP鍍層的可焊性變化而對工藝產生的影響。

OSPrey800(OSP鍍層測厚儀)產品特色:

  • 無損實時檢測
  • 不再使用檢驗銅箔，無需樣品制備
  • 超小檢測點
  • 二維圖象分析功能
  • 可在粗糙表面測量OSP鍍層厚度
  • 人性化操作流程設計

規格說明：

－－光源激發       420nm~665nm復合波長光源，通過Ｖ型刻痕濾光片選擇特定波長光學。 20倍光學變焦和成像系統，1/8英吋光纖。

－－檢測器         CCD檢測器

－－分析            處理由OSP的膜厚反射而形成的反射光譜，自行編程的編輯器來輸入需預先設定的參數 。

－－工作環境       10°C~ 40°C，－－濕度:使用中置98%

－－樣品臺          XY軸固定樣品放置臺，Z軸自動光學聚焦

－－電源             110-240VAC，50-60Hz，230W；Maximum Fuse Provide: 4A 250V。

－－OSPrey800(OSP鍍層測厚儀)儀器尺寸        操作臺: 25 寬 x 30 長x 46.5 高 (cm)， 主控制器 : 27.5長x20.7寬x14.5(cm)

－－儀器重量        操作臺: 6.6 kg (14.5 lbs) ； 主控制器: 5.7 kg (12.5 lbs) 

 

 

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