產品概述:符合GB2099圖32、VDE0620標準的要求,用于檢測插頭線錐度撓曲旋轉試驗;角度、速度可調,到了設定次數或試樣斷線會自動停機。 轉盤速率:10~45rpm負載砝碼:0.5LB 2 個 試驗次數:0~9999 (X1,X10 ,X100)測試工位:2 撓曲角度:可調
油升柱塞泵V15A4R10X,V15A3R10X,V15A2R10X,V15A1R10X,
油升柱塞泵V15A4R10X,V15A3R10X,V15A2R10X,V15A1R10X,V18A4R10X,V18A3R10X,V18A2R10X,V18A1R10X,V23A4R10X,V23A3R10X,V23A2R10X,V23A1R10X,V25A4R10X,V25A3R10X,V25A2R10X,V25A1R10X,V38A4R10X,V38A3R10X,V38A2R10X,V38A1R10X,V42A4R10X,V42A3R10X,V42A2R10X,V42A1R10X,V50A4R10X,V50A3R10X,V50A2R10X,V50A1R10X,V70A4R10X,V70A3R10X,V70A2R10X,V70A1R10X
V | 15 | A | 1 | R | B | S | -A | 10 | C | X | A | 1001 |
系列 | 排量 | 控制方式 | 壓力調 整范圍 | 旋轉方向 (從軸端看) | 配管方向 | 軸心 型式 | 電壓 | 配管 牙型 | 通軸 規格 | 特殊規 格編號 | 連接型式 | 編號 |
變量 柱塞泵 | 見規 格表 | 見 控制方式 | 見規 格表 | R: 順時針 L: 逆時針 | 無標記: 兩側出油 B:后端出油 B2:兩側出油 加后方出油 | 型式 | 電壓 | 牙型 | 規格 | X:標準品 X1: 低壓母機使用 Z:空轉泄壓型 | 無記號: 標準型 A: 兩孔型 | 1001 |
型 號 | 使用壓力MPa | 排量 | 無負荷時之流量(ℓ/min) | 壓力調整范圍MPa | 回轉速 rpm | 重量(kg) | ||
ml/rev. | 1500rpm | 1800rpm | 法蘭型 | |||||
V15 | 25 | 15.0 | 22.5 | 27.0 | 1:0.8-7 2:1.5-14 3:2-21 4:2-25 | 500 | 1800 | 13 |
V18 | 17.8 | 26.7 | 32.0 | 13 | ||||
V23 | 23.0 | 34.5 | 41.4 | 22 | ||||
V25 | 21 | 25 | 37.5 | 45 | 22 | |||
V38 | 25 | 37.8 | 56.7 | 68.0 | 26 | |||
V42 | 21 | 42 | 63.0 | 76.0 | 26 | |||
V50 | 51.5 | 77.2 | 92.7 | 55 | ||||
V70 | 69.7 | 104.5 | 125.4 | 56 |
公司網站:泵:http://www.yz-mc.cn/ 柱塞泵-葉片泵-齒輪泵閥:http://www.yz-mc.com.cn/ 附件:http://www.yz-mc.net/
希而科貿易(上海)有限公司優勢供應專業工業德國IMAV壓力閥,IMAV流量控制閥,IMAV換向閥,IMAV截止閥,IMAV比例閥以及電磁閥。
產品描述
1.可實現上限停止,下限啟動的功能;(也可反向控制)
2.可以設置啟動延時,防止電機的頻繁開啟造成損傷;
3.KPA 、BAR、PSI多種壓力單位切換;
4.一鍵清零功能
5.具有管道漏壓保護的功能
6.低功耗,不超過0.5W
7.耐震、抗干擾強、響應快,性能穩定。
產品量程 | 0~-120.0kpa |
產品精度 | 顯示精度:0.1KPA控制精度:1KPA |
供電電壓 | 24VDC 220VAC可選 |
報警點設置 | -3KPa~ -120KPa 可設 |
輸出信號 | 繼電器 |
負載能力 | 220V5A 24V5A |
采樣速率 | 5次/秒 |
使用溫度 | -20℃~65℃ |
測量介質 | 對不銹鋼無腐蝕的介質 |
安裝接口 | M20*1.5 |
電氣保護 | 反極性保護 短路保護(24VDC) 抗電磁干擾 |
表盤直徑 | 80mm |
• 現場并行配置• 單相或三相輸出• 低諧波失真• 直流輸出ELGAR真波(TW)被設計用來測試當今復雜的電子產品,包括航空電子設備和商業應用,它們都要求通過直流和正弦波測試。TW系列對于電子產品來說是理想的測試,它符合新的歐洲電子器件的標準,例如諧波。可以做出的測量:• 峰值突入電流• 均方根相電壓• 均方根線電壓• 相間均方根值輸出電壓• 均方根值輸出電流• 峰值電流• 輸出頻率• 單相到3相 功率• 單相到3相VA• 單相到3相VA• 相位A的輸出相位角其他應用包括:• 測試環境,需要現場配置的并聯運行• 測試為現實世界單直流或多相交流電源條件• 自動測試設備• 一般的交流和直流航空電子測試• 交流-直流電源測試,直流-直流變換器和UPS的測試• 交流電子鎮流器測試(IES LM-41-1985)• 現場可配置的并聯運行多達8個單元
用于現場總線(FCS),可編程控制器(PLC)、DCS、PCS、計算機等控制、數據采集系統的開關量輸入擴展,采用Profibus專用芯片,支持所有Profibus-dp現場總線系統。是帶隔離的數字量輸入輸出模塊。DP-4404是模擬量輸出模塊,可以同時輸出4路的模擬量信號,內部采用12位分辯率DAC。模擬量輸出信號可以軟件配置為電壓信號輸出或電流信號輸出,電壓信號輸出范圍為0~10V,電流信號可以選擇為0~20mA或4~20mA輸出。模塊還具有4路數字量輸入通道,可以采集電平信號或開關觸點信號,為模擬量輸出提供匹配輸出功能。
1.1 主要技術指標1.1.1 模擬量輸出¨ 輸出路數:4路;
¨ 輸出類型:電壓輸出:0~10V;電流輸出:0~20mA或4~20mA;
¨ DAC分辨率:12位;
¨ 輸出精度:V:±0.2%;I:±0.4%;;
¨ 輸出斜率:可配置,電壓輸出:0.0625V/s~1000V/s;電流輸出: 0.125mA/s~2000 mA/s;
¨ 4通道具有同步輸出輸出功能;
1.1.2 數字量輸入
¨ 輸入路數:4路帶led顯示;
¨ 輸入類型:開關觸點信號或電平信號;
¨ 輸入范圍:
高電平(數字1): +3.5 V~+30V;
低電平(數字0): ≤+1V;
1.1.3 系統參數¨ CPU:32位RISC ARM;
¨ 操作系統:實時操作系統;
¨ 隔離耐壓:2500 VDC;
¨ 供電電壓:+10~+30VDC,電源反接保護;
¨ 工作溫度范圍:-40℃~+85℃;
¨ 塑料外殼,標準DIN導軌安裝;
¨ 通訊接口:隔離2500 VDC,ESD、過壓、過流保護;
¨ Profibus-dp通訊方式,支持多種組態軟件,PLC系統。
¨ 9.6Kbps~6Mbps自適應波特率選擇
¨ 數字量輸入、輸出回路與通訊回路電隔離
1.1 原理框DP-4404模塊的原理。模塊主要由電源、隔離電路、D/A轉換電路、數字量輸入電路、Profibus-dp隔離通訊接口以及MCU等組成。模塊的微控制器采用32位RISC的ARM芯片,具有非?焖俚臄祿幚砟芰Γ⒉捎昧丝撮T狗電路,可以在出現意外時將系統重新啟動,使得系統更加穩定可靠,可以應用在高性能和高速度的應用環境中。
DP-4404針對工業應用設計,在內部輸入輸出單元與控制單元之間采用光電隔離,極大降低了工業現場干擾對模塊正常運行的影響,使模塊具有良好的可靠性。采用帶隔離的Profibus隔離通信接口,可以避免工業現場信號對微控制器通訊接口的影響,并具有ESD、過壓、過流保護
全自動比表面積測量儀V-Sorb 2800S介紹:金埃譜科技是比表面積測量儀,比表面積儀,比表面積測試儀,比表面積分析儀,比表面積測定儀,孔徑分析儀,孔隙率測定儀,比表面積和微孔分析儀,孔徑分布測試儀,比表面及孔隙度分析儀國產實現真正完全自動化智能化測試技術的開拓者和引領者,多項獨特技術已成為業內廠商仿效典范.
全自動靜態容量法比表面積測量儀性能參數
測試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態法),吸附及脫附等溫線測定,BET法比表面積測定(單點及多點),Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,樣品真密度測定,t-plot圖法外比表面積測定;
測定范圍:0.01(㎡/g)--至無上限(比表面積);
測量精度:重復性誤差小于1.5%;
真空系統:V-Sorb獨創的集裝式管路及電磁閥控制系統,大大減小管路死體積空間,提高檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高比表面積測定的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大提高密封性和儀器使用壽命;
液位控制:V-Sorb獨創的液氮面控制系統,確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;
控制系統:采用可編程控制器電磁閥控制系統,高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩定性和使用壽命;
樣品數量:同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理;
壓力測量:采用壓力分段測量的進口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點下測試精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa)(可選)
壓力精度:進口硅薄膜壓力傳感器,精度達實際讀數的0.15%,優于全量程的0.15%,遠高于皮拉尼電阻真空計精度(一般誤差為10%-15%);
分壓范圍:P/Po 準確可控范圍達5x10-6-0.995;
極限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等;
測試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr);
數據采集:高精度及高集成度數據采集模塊,誤差小,抗干擾能力強;
數據處理:Windows兼容數據處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數據分析,圖形化數據分析結果報表.
比表面積測量儀V-Sorb 2800S是金埃譜科技自主研發的全自動智能化比表面積測量儀器,采用靜態容量法測試原理,眾多著名科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面積測量儀多項獨創技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面積測量儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面積測量儀測試過程的穩定性更強,金埃譜比表面積測量儀達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.4站比表面積測量儀F-Sorb 2400是目前國內同類產品中唯一完全自動化,智能化的產品,08年和09年國內市場銷量第一.
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業中注冊資本規模最大,唯一通過ISO9001質量認證的企業,雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
全自動靜態容量法比表面積測量儀特點
A.比表面積測量儀真空系統
1)獨創的一體化集裝式管路系統,采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度;
2)模塊化結構設計,一體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換;
3)采用德國進口的真空泵,噪音小,運行穩定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達4x10-2Pa(3x10-4Torr);
B.比表面積測量儀控制系統
1)采用廣泛應用于工業控制系統中的可編程控制器電磁閥控制系統,抗干擾能力強,穩定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;
2)獨特設計的測試系統管路和樣品處理管路分離結構,有效防止樣品處理過程中產生的雜質對測試管路的污染;
C.比表面積測量儀提高測試精度措施
1)采用與同類進口產品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測量精度為相應讀數的0.15%,遠遠優于0.15%的全量程精度(FS)傳感器;
2)與國外同類產品類似,采用0-10Torr(可選)和0-1000Torr雙壓力傳感器,對測試范圍內的壓力采用分段測量,大大降低了低真空下的測量誤差,0-10Torr(可選)的硅薄膜壓力傳感器精度遠高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(一般誤差為10%-15%);
3)獨創的一體化集裝式管路系統,采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大減少死體積空間,有利于降低測量誤差;
4)獨創的步進式液氮面控制系統,確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;
5)獨特設計的抽氣及進氣控制系統,有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移;
D.比表面積測量儀數據采集及處理
1)采用高精度及高集成度數據采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業界標準的485通訊模式,有利于設備擴展和互連,可方便轉換為所需的RS232和USB通訊模式;
2)多種理論計算模型數據分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強大的測試數據歸檔保存,查詢系統,有利于用戶數據管理.
LB膜分析儀
1. 產品簡介KSV NIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經營方向為單分子層薄膜的構建與表征工具。LB(Langmuir-Blodgett)膜分析儀為KSV NIMA自主研發的一款單分子層膜的制備和表征設備,是LB膜的沉積領域應用最廣泛的一款全球領先設備。LB膜分析儀配備了鍍膜井和鍍膜頭,在所需的堆積密度下,鍍膜頭可以用來將Langmuir膜轉移到固體基材上,鍍膜井可以在Langmuir膜下為固體樣品提供空間。將Langmuir膜轉移到樣品上,密度,厚度及均勻性等性質將會保留,從而實現了制備不同組成的多分子層結構的可能。與其他有機薄膜沉積技術相比,LB沉積方法受功能性分子的分子結構限制影響很小,這意味著LB技術是唯一能夠進行自下向上的一種組裝方法。常規的LB膜分析儀包含三種型號的槽體:小型、中型、大型。2. 工作原理位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動,具有較強的流動性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過Langmuir膜分析儀的壓力傳感器進行控制。在進行典型的等溫壓縮測試時,單分子層先從二維的氣相(G)轉變到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開始發生相互作用;在固相時,分子的堆積是有序的,導致表面壓迅速增大。當表面壓達到最大值即塌縮點后,單分子層的堆積不再可控。1. 槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口2. 框體特性:33 mm槽體高度調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等接口3. 系統設計:模塊化設計,可獨立進行表面壓測量和鍍膜實驗,可原位進行表面紅外、表面電勢、布魯斯特角圖像、界面剪切等測試 4. 槽體表面積: 98 cm2 5. 槽體內部尺寸:195 x 50 x 4 mm(長 x 寬 x高)6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 測量范圍:0-150 mN/m9. 天平最大負荷: 1 g,可三維 10. 天平定位調節: 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)11. 傳感精度: 4 μN/m12. 表面壓測試元件: 標準Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國際標準。其他選項:Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒13. Langmuir測試槽亞相容積:39 ml14. Langmuir-Blodgett測試槽亞相容積:57 ml15. 鍍膜井尺寸:20 x30 x 30 mm(長 x 寬 x高)16. 最大基材尺寸:3 x 26 x26 mm或1英寸 17. 最大鍍膜沖程: 80 mm18. 鍍膜速度:0.1 – 108 mm/min19. 電源: 100...240 VAC20. 頻率: 50...60 Hz
3.2 中型LB膜分析儀(KN2002)1. 槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口2. 框體特性:33 mm槽體高度調節,天平可XYZ三維定位調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等接口3. 系統設計:模塊化設計,可獨立進行表面壓測量和鍍膜實驗,可原位進行表面紅外、表面電勢、布魯斯特角圖像、界面剪切等測試 4. 槽體表面積: 273 cm2 5. 槽體內部尺寸:364 x 75 x 4 mm(長 x 寬 x高)6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 測量范圍:0-150 mN/m9. 天平最大負荷: 1 g10. 天平定位調節: 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)11. 傳感精度: 4 μN/m12. 表面壓測試元件: 標準Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國際標準。其他選項:Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒13. Langmuir測試槽亞相容積:109 ml14. Langmuir-Blodgett測試槽亞相容積:176 ml15. 鍍膜井尺寸:20 x56 x 60 mm(長 x 寬 x高)16. 最大基材尺寸:3 x 52 x56 mm或2英寸 17. 最大鍍膜沖程: 80 mm18. 鍍膜速度:0.1 – 108 mm/min19. 電源: 100...240 VAC20. 頻率: 50...60 Hz
3.3 大型LB膜分析儀(KN2003)1.槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口2.框體特性:33 mm槽體高度調節,天平可XYZ三維定位調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等口3.系統設計:模塊化設計,可獨立進行表面壓測量和鍍膜實驗,可原位進行表面紅外、表面電勢、布魯斯特角圖像、界面剪切等測試 4.槽體表面積: 841 cm2 5.槽體內部尺寸:580 x 145 x 4 mm(長 x 寬 x高)6.滑障速度: 0.1-270 mm/min7.滑障速度精度: 0.1 mm/min8.測量范圍:0-150 mN/m9.天平最大負荷: 1 g10. 天平定位調節: 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)11. 傳感精度: 4 μN/m12. 表面壓測試元件: 標準Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國際標準。其他選項:Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒13. Langmuir測試槽亞相容積:336 ml14. Langmuir-Blodgett測試槽亞相容積:578 ml15. 鍍膜井尺寸:20 x110 x 110 mm(長 x 寬 x高)16. 最大基材尺寸:3 x 106 x106 mm或4英寸 17. 最大鍍膜沖程: 80 mm18. 鍍膜速度:0.1 – 108 mm/min19. 電源: 100...240 VAC20. 頻率: 50...60 Hz
4. 產品優勢及亮點4.1 產品優勢1.專為極度精確測試設計的超敏感表面張力傳感器。鉑金屬板,鉑金屬棒及紙板都可用作探針以滿足不同的需求。2. 開放性的設計便于槽體在框架上的放置及不同槽體的快速更換,同時便于清洗槽體表面。3. 當需要清潔或更換新槽體時,槽體在框架上的拆卸/放置極其方便。4. Langmuir-Blodgett槽體是由便于清潔、可靠耐久的整塊純聚四氟乙烯構成,其獨特的設計能夠防止槽體和鍍膜井發生泄漏,同時避免了使用膠水及其他封裝材料造成的潛在污染。5. 滑障由親水性的迭爾林聚甲醛樹酯制成,可提高單分子層的穩定性。可根據客戶需要提供疏水性的聚四氟乙烯壓縮滑障。穩健的金屬構架能夠防止滑障隨著時間的推移而變形。6. 對稱滑障壓縮為標準的均勻壓縮方法,但任意儀器均可實現單一滑障壓縮。7. 居中的鍍膜井有利于單分子層LB沉積的均一性。8. 通過外部循環水浴對鋁制底板進行加熱/冷卻,以控制亞相的溫度(水浴為分開銷售)。9. 通過調整框架撐腳,可快速而準確地校準槽體水平。當需要放置顯微鏡時,框架撐腳也可很容易地從槽體上拆除。
4.2 產品亮點4.2.1 聯用或相關分析技術 本產品可與界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS),布魯斯特角顯微鏡(BAM),界面剪切流變儀(ISR),熒光顯微鏡,X射線等光學表征技術聯用或對樣品進行后續分析。具體如:
1. 紅外反射吸收光譜(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶體微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等離子共振儀4. 電導率測量儀5. 紫外可見吸收光譜儀6. 原子力顯微鏡7. X射線反射器8. 透射電子顯微鏡9. 橢圓偏振儀10. X射線光電子能譜儀等
4.2.2 本公司可提供聯用儀器簡介
1. 界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS)帶極化模塊的界面紅外反射吸收光譜儀主要用來決定分子的取向和化學組成。
2. 布魯斯特角顯微鏡(BAM)可進行薄膜的均一性、相行為和形貌的單分子層成像和光學觀測。3. 表面電位測量儀(SPOT)使用無損振蕩板式電容技術來監測薄膜的電位變化,從而對單分子層的電學性質進行表征。提供堆積密度和取向等信息,可對任何Langmuir等溫測試進行補充。4. 界面剪切流變儀(ISR)這種獨特的剪切流變儀可以測量界面處的粘彈性。適用于氣-液或油-水的研究,在控制表面壓的同時,可對粘彈性進行分析。5. 產品應用5.1 應用范圍生物膜及生物分子間的相互作用細胞膜模型(如:蛋白質與離子的相互作用)構象變化及反應藥物傳輸及行為
有機及無機涂料具有光學、電學及結構特性的功能性材料新型涂料:納米管、納米線、石墨烯等
表面反應聚合反應免疫反應、酶-底物反應生物傳感器、表面固定催化劑表面吸附和脫附
表面活性劑及膠體配方科學膠體穩定性乳化、分散、泡沫穩定性
薄膜的流變性擴張流變界面剪切流變(與KSV NIMA ISR 聯用)
5.2 客戶發表成果(部分)1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444) 2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4) 4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033) 5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16) 6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444) 7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409) 6. 聯系方式瑞典百歐林科技有限公司上海代表處注:相關資料如有變化,恕不另行通知,瑞典百歐林科技有限公司對資料中可能出現的紕漏免責,更多資料歡迎來電詢問。