X射線衍射儀產品及廠家
x 射線衍射系統的新型 x´pert3 系列中得以延用。 x´pert3 高分辨衍射儀平臺具有新型機載控制電子裝置，符合x 射線和運動安全規范，且具有環保和可靠性能，已準備好迎接未來的挑戰。
更新時間:2025-06-12
一般來說，xrd實驗要求使用研磨得非常細小且隨后被碾壓成小球狀的樣本。之所以這樣要求，是因為要確保樣本晶粒具有足夠多的無序衍射方向。btx針對這個問題為用戶提供一個已獲全新解決方案。僅需15mg樣本，btx的整合性樣本振動艙就可以使樣本對流傳熱。因此，btx能夠將晶體結構的各種不同方向呈現給儀器的光學設備。從而可生成非常理想的xrd衍射圖案，而且基本上不會出現使用更傳統的準備方式時會遇到的擇優方向
更新時間:2025-06-12
器種類：單晶衍射儀產地類別：進口發生器功率：30w、50w、1.2kw、3kw小步進角度：小步徑0.0001度重復性：優于0.0001角度偏差：0.0001o
更新時間:2025-06-12
儀器種類：多晶衍射儀發生器功率：3kw/9kw小步進角度：0.0001o 重復性：優于0.0001 角度偏差：不超過±0.01
更新時間:2025-06-12
器種類：多晶衍射儀發生器功率：3kw小步進角度：0.0001o 重復性：優于0.0001 角度偏差：不超過±0.01
更新時間:2025-06-12
核心參數儀器種類：小角散射儀產地類別：進口發生器功率：5.5 kw小步進角度：0.0001°重復性：0.0001角度偏差：0.0001
更新時間:2025-06-12
saxspace（small & wide angle x-ray scattering system）是奧地利安東帕公司研制開發的一種小角x-射線散射儀。是一款適用于saxs,waxs,gi-saxs,bio-saxs等的模塊化納米結構分析儀。其角度范圍為0.03-49nm^-1,對應的尺寸范圍為0.13-200nm。在不改變儀器設置的情況下，saxspace可以同時測量小角和廣角x-射線散射
更新時間:2025-06-12
儀器種類：多晶衍射儀產地類別：進口發生器功率：3500w小步進角度：非運動式測角儀，無此參數重復性：優于0.0001角度偏差：不超過±0.01
更新時間:2025-06-12
儀器種類：多晶衍射儀產地類別：進口發生器功率：50w小步進角度：非運動式測角儀，無此參數重復性：優于0.0001角度偏差：不超過±0.01
更新時間:2025-06-12
核心參數儀器種類：多晶衍射儀產地類別：進口發生器功率：3500小步進角度：0.0001重復性：優于0.0001角度偏差：不超過±0.01
更新時間:2025-06-12
簡介：mxf-2400：從主元素到雜質元素，可同時無損分析36種元素。（分析范圍：4be，5b，6c～92u）配置4kw（薄窗）的x射線管，提高x光源功率。島津多道x射線熒光光譜儀mxf-2400是升級型的多道型x射線熒光光譜儀。
更新時間:2025-06-08
采用進口plc控制線路代替單片機控制線路，使該儀器故障率大大降低，儀器性能更加穩定可靠。進口plc可編程控制器的使用，可大大提高該儀器x射線發生器的使用功率，滿足部分特殊用戶需大功率測試特殊樣品的需要。
更新時間:2025-06-06
射線防護眼鏡(側防護型) → 帶側防（太陽穴），并可按處方配光學度數 → 有近視度數型、遠視型和平光型三種
更新時間:2025-06-06
簡單介紹 可調角度活動拍片架是專為工業上射線機拍片時焦點難對準而設計的，該產品在發生器支架平臺上可以通過手輪搖動，使該平臺實現可調角度，方便了拍片角度難調節問題，提高了工作效率，操作簡單，無需用電源。
更新時間:2025-06-06
靈敏度：4ppmeu(1ppmeu平均鈾含量相當于0.52γ) 測量：×1檔0～9999可用溢出報警擴大讀數范圍
更新時間:2025-06-06
醫用x射線防護屏風(鉛屏風) → 國際新型進口鉛玻璃，分鉛樹脂有機玻璃和高密度超薄特種鉛玻璃兩種
更新時間:2025-06-06
horiba x射線熒光分析儀可快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過ccd攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作簡單。
更新時間:2025-06-06
產品簡介：材料為日本新型鉛有機玻璃：透光率高、韌耐用、重量 輕。采用人性化結構設計：配戴舒適、視野寬、結實可靠。 鉛當量：0.12mmpb， 特點：面部半防護型、重量輕便、透光率好。
更新時間:2025-06-06
→ 國際新型防護鉛皮現國際上超輕、超薄、超柔軟防護材料；與同類進口鉛衣比較可減輕百分之二十五至三十的相對重量； → 防護性能極佳鉛分布十分均勻，正常使用鉛當量不會衰減；提供0.35/0.5mmpb鉛當量； 耐磨、易清洗表面材料大程度保護您的投資;
更新時間:2025-06-06
hb407-d40型智能化β、γ表面污染檢測儀適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與x、γ輻射劑量率的監測。儀器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；
更新時間:2025-06-06
hb407-l805g區域γ輻射監測系統主要是對放射性場所中的x、γ射線進行在線實時監測，由一個監測控制器和多個探測器組成。控制器與探測器之間采用485工業控制總線式進行通信連接也可采用無線網絡通訊連接。實時的反映出每個探測點的劑量率。
更新時間:2025-06-06
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的x光管，最先進的測角儀的、獨特的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。世界上第一個衍射平臺上的三維探測系統， pixcel3d 探測器將使用于這一多功能的x-射線衍射系統上，將面探測技術與ct技術平民化。
更新時間:2025-06-05
cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，鈦白粉行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型x光管――第二代陶瓷x光管；新型測角儀――采用dops直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有最優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件industry。2010年更推出新的高速衍射儀 cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最新開發出的專門用于工業領域開發與質量控制的x射線衍射儀。
更新時間:2025-06-05
x'pert powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。超高頻x射線發生器采用第二代陶瓷x光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換x光管后無需重新校準路立式測角儀，采用dops直接光學位置編碼專利技術
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。還可通過峰面積計算進行定量分析，通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
島津x射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
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